[发明专利]过压容限电平检测电路、其操作方法及系统有效
| 申请号: | 201210073669.4 | 申请日: | 2012-03-07 |
| 公开(公告)号: | CN102692539A | 公开(公告)日: | 2012-09-26 |
| 发明(设计)人: | 格雷戈里·A·马赫尔 | 申请(专利权)人: | 快捷半导体(苏州)有限公司;快捷半导体公司 |
| 主分类号: | G01R15/14 | 分类号: | G01R15/14 |
| 代理公司: | 北京派特恩知识产权代理事务所(普通合伙) 11270 | 代理人: | 武晨燕;张颖玲 |
| 地址: | 215021 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 容限 电平 检测 电路 操作方法 系统 | ||
1.一种检测电路,其特征在于,包括:
分压器,其被配置为从连接到所述检测电路的外部设备接收第一电源电压;
第一晶体管和第二晶体管,其被配置为从所述分压器接收控制电压,并且当所述控制电压超过第一阈值时将输出端连接到地;以及
偏置电路,其被配置为对所述第一晶体管进行偏置以设置所述第一阈值。
2.根据权利要求1所述的检测电路,其中,所述电路被配置为当所述第一电源电压低于第二阈值时基本上不消耗来自电路电源的功率。
3.根据权利要求1所述的检测电路,其包括第一电阻器,所述第一电阻器被配置为当所述第一电源电压低于第二阈值时,将所述输出端拉到电路电源电压。
4.根据权利要求3所述的检测电路,其中,所述分压器被配置为接收大于所述第一晶体管和所述第二晶体管的额定工作电压的第一电源电压。
5.根据权利要求1所述的检测电路,其中,所述偏置电路包括电阻器,并且其中,所述第一阈值是使用所述电阻器来设置的。
6.根据权利要求5所述的检测电路,其中,所述电阻器包括半导体电阻器件。
7.根据权利要求5所述的检测电路,其中,所述第一阈值的较低值对应于所述电阻器的较高电阻值。
8.根据权利要求1所述的检测电路,其中,所述第一晶体管和所述第二晶体管被串联连接在所述输出端和地之间,
其中,所述偏置电路包括连接到被所述第一晶体管和所述第二晶体管共用的预充电节点的第三晶体管;并且
其中,所述第三晶体管的控制节点连接到所述输出端。
9.根据权利要求1所述的检测电路,其中,所述输出端被配置为当所述控制电压增加到所述第一阈值电压以上时从高逻辑状态转换到低逻辑状态。
10.根据权利要求1所述的检测电路,其中,所述输出端被配置为当所述控制电压减小到第二阈值以下时从低逻辑状态转换到高逻辑状态,其中,所述第一阈值大于所述第二阈值。
11.根据权利要求1所述的检测电路,其中,所述分压器、所述第一晶体管和所述第二晶体管以及所述偏置电路包括在集成电路中。
12.根据权利要求1所述的检测电路,包括电容器,其被配置为控制所述控制电压的转换的边沿速率。
13.根据权利要求1所述的检测电路,其中,所述第一晶体管和所述第二晶体管串联连接在所述输出端和地之间,
其中,所述偏置电路包括连接到被所述第一晶体管和所述第二晶体管共用的预充电节点的第三晶体管;并且
其中,所述第三晶体管的控制节点连接到所述输出端。
14.一种操作检测电路的方法,其特征在于,所述方法包括:
从与检测电路的分压器相连接的外部设备接收电源电压;
在第一晶体管的控制节点处和第二晶体管的控制节点处从所述分压器接收控制电压,所述第一晶体管和所述第二晶体管串联连接在所述检测电路的输出端和地之间;
当所述控制电压超过第一阈值时,将所述输出端连接到地;以及
对所述第一晶体管和所述第二晶体管进行偏置以设置所述第一阈值。
15.根据权利要求14所述的方法,包括调节所述偏置电路的电阻以设置所述第一阈值。
16.根据权利要求15所述的方法,其中,调节所述电阻包括:增加所述电阻以减小所述第一阈值。
17.根据权利要求14所述的方法,其中,当所述控制电压减小到第二阈值以下时断开所述输出端与地之间的连接,其中,所述第二阈值小于所述第一阈值。
18.一种系统,其特征在于,包括:
端口;
开关,其连接到所述端口;以及
检测电路,其被配置为使用外部设备的电源电压来提供所述外部设备被连接到所述端口的指示,所述检测电路包括:
分压器,其被配置为接收所连接的设备的所述电源电压;
串联连接的第一晶体管和第二晶体管,其被配置为从所述分压器接收
控制电压,并且当所述控制电压超过第一阈值时将输出端连接到地;以及
偏置电路,其被配置为对所述第一晶体管进行偏置以调节所述第一阈值。
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