[发明专利]一种应用于三维测量的全局相位滤波方法无效

专利信息
申请号: 201210063823.X 申请日: 2012-03-13
公开(公告)号: CN102607460A 公开(公告)日: 2012-07-25
发明(设计)人: 宋丽梅;陈卓;董虓霄;张亮;陈昌曼 申请(专利权)人: 天津工业大学
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;G06T5/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 300160*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 应用于 三维 测量 全局 相位 滤波 方法
【权利要求书】:

1.一种应用于三维测量的全局相位滤波方法,其特征是,包括下列步骤:

步骤1:对于分辨率为N×M的相位图像,存在N行相位数据,每行M个像素,对M个数据相邻像素进行斜率运算,可以计算出M-1个斜率,即:K1、K2、.....KM-1,开辟t-1个浮点类型的内存空间,用于存储K1~Kt-1,定义计数变量:n、z,编号变量:i、q,将两个点(k点和j点)形成的斜率编号为q(q的初始值为1)并存储于第i(i的初始值为0)个存储空间中,k点和j点的斜率应按照如下公式计算:

Kj=yk-yjxk-xj]]>

步骤2:判定q是否大于等于M-1如果为真,执行步骤5,如果为假则将编号i、q分别加1并将斜率Kq存入第i个存储空间,按照如下判定条件并计数到变量n中:

如果|Ki-Kj|>ε(j=i-1,ε为设定的阈值),则重新将Ki代入第0个存储空间,并且将原先计数值n清0,编号q应执行加i+1的操作,将i的值归零,并重复执行步骤2;

如果|Ki-Kj|≤ε(j=i-1,ε为设定的阈值),变量n计数值应加1,则重复执行步骤2直到n与t-2相等为止,然后执行步骤3;

步骤3:根据已经找出的t个(t-1个斜率)连续光滑点作基准向后按照公式|Ki-Kj|≤ε进行延伸判定,编号q应执行加1操作,而此时Kj指的是刚算出t-1个斜率中的最后一个斜率,Ki在M-1个斜率中应指的是编号为q的斜率;

当判定出|Ki-Kj|>ε时将第q个点的幅值置0并开始向变量z中计数;

如果满足|Ki-Kj|≤ε条件时,计数变量z清0;

当计数值达到人为给定a(a是出现连续噪声的个数,并且a的值不能大于等于t,经测试当a大于等于t时,会出现相当多的噪点)值时,执行步骤4,否则执行步骤3,直到q大于等于M-1为止;

步骤4:将编号q执行减去a-1的操作,重新执行步骤2;

步骤5:删除已开辟的内存空间,去噪结束。

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