[发明专利]一种基于狭义相对论的质量分析方法与质谱仪器有效
| 申请号： | 201210063341.4 | 申请日： | 2012-03-12 |
| 公开（公告）号： | CN102592937A | 公开（公告）日： | 2012-07-18 |
| 发明（设计）人： | 何小丹;陈琛;丁传凡 | 申请（专利权）人： | 复旦大学 |
| 主分类号： | H01J49/00 | 分类号： | H01J49/00;H01J49/34 |
| 代理公司： | 上海正旦专利代理有限公司 31200 | 代理人： | 陆飞;盛志范 |
| 地址： | 200433 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 基于 狭义相对论 质量 分析 方法 质谱仪 | ||
【权利要求书】：
1.一种基于狭义相对论的质量分析方法，其特征在于待测物离子进入到离子源区后用加速电场将待测物离子加速到3×105m/s或以上，再进入无场飞行区作自由飞行，然后进入离子探测器，被测量到，根据离子在无场飞行区飞行的时间确定该离子的静止质量，其算式为：
=，
式中，e表示被分析物所带电荷，E表示加速电场强度，d表示被分析物在加速电场中运动的距离，L表示无场漂移管的长度，c表示光速。
2.一种基于权利要求1所述的质量分析方法的质谱仪器，其特征在于包括：一个离子源区，一个加速电场，一个无场漂移管，一个离子检测器；所述加速电场由三个或三个以上脉冲高压组成，这些脉冲高压由对应电极提供；
将被分析物的离子源产生的离子束引入到离子源区中，在离子源区的加速电极之间加一个脉冲高压，将离子推出离子源区，进入加速电场，离子在加速电场中被加速后进入无场漂移管，以恒定速度飞向离子检测器，被分析物的荷质比m0/e和时间t满足以下关系：=，其中，e表示被分析物所带电荷，E表示加速电场强度，d表示被分析物在加速电场中运动的距离，L表示无场漂移管的长度，c表示光速。
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