[发明专利]A/D转换器的测试装置以及测试方法有效
申请号: | 201210061576.X | 申请日: | 2012-03-09 |
公开(公告)号: | CN102684696A | 公开(公告)日: | 2012-09-19 |
发明(设计)人: | 浅见幸司;古川靖夫 | 申请(专利权)人: | 株式会社爱德万测试 |
主分类号: | H03M1/10 | 分类号: | H03M1/10 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 黄志华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 转换器 测试 装置 以及 方法 | ||
1.一种测试装置,其是N位的A/D转换器的测试装置,N是自然数,其特征在于,包括:
电压生成部,其对所述A/D转换器输出2N等级的模拟电压;
采集单元,其对各等级中的所述A/D转换器的输出代码进行采集;
信号处理部,其将在各等级中所采集的输出代码与对应的期望值代码进行比较,根据比较结果对各等级的模拟电压的值进行校正,并使校正后的模拟电压输出到所述电压生成部。
2.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,
所述信号处理部在第i次的校正处理中,根据在某等级中所采集的输出代码与对应的期望值代码的比较结果,使该等级的第i+1次的所述模拟电压减小或者增大,其中i是自然数。
3.根据权利要求2所述的测试装置,其特征在于,
在所述模拟电压的邻接等级的初始状态下的电位差均为ΔV,
所述信号处理部在第i次的校正处理中,根据在某等级中所采集的输出代码与对应的期望值代码的比较结果,使该等级的第i+1次的所述模拟电压减小或者增大ΔV/2i,其中i是自然数。
4.根据权利要求2或3所述的测试装置,其特征在于,
所述信号处理部反复进行所述模拟电压的校正处理,直到获得所希望的分辨率为止。
5.根据权利要求1至3中任意一项所述的测试装置,其特征在于,
所述电压生成部包括:
主电压源,其生成邻接等级的电位差为ΔV的2N等级的基准模拟电压;
副电压源,其按各等级而生成与通过所述信号处理部所决定的校正量相对应的校正电压;
加法器,其对所述基准模拟电压和所述校正电压进行相加,并输出校正后的模拟电压。
6.根据权利要求1至3中任意一项所述的测试装置,其特征在于,
所述电压生成部以单调增加的方式而产生所述2N等级的模拟电压。
7.根据权利要求1至3中任意一项所述的测试装置,其特征在于,
所述电压生成部以扰动的方式而产生所述2N等级的模拟电压。
8.一种测试方法,其是N位的A/D转换器的测试方法,N是自然数,其特征在于,
将变量i递增的同时,其中i是自然数,反复执行如下的步骤:
对所述A/D转换器输出2N等级的模拟电压;
对各等级中的所述A/D转换器的输出代码进行采集;
将在各等级中所采集的输出代码与对应的期望值代码进行比较,并根据比较结果来校正各等级的模拟电压值。
9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,
在第i次进行校正的步骤中,根据在某等级中所采集的输出代码与对应的期望值代码的比较结果,使该等级的第i+1次的所述模拟电压减小或者增大。
10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,
在所述模拟电压的邻接等级的初始状态下的电位差均为ΔV,
在第i次进行校正的步骤中,根据在某等级中所采集的输出代码与对应的期望值代码的比较结果,使该等级的第i+1次的所述模拟电压减小或者增大ΔV/2i。
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