[发明专利]环状带的检查方法及装置无效
申请号: | 201210060350.8 | 申请日: | 2012-03-08 |
公开(公告)号: | CN102672866A | 公开(公告)日: | 2012-09-19 |
发明(设计)人: | 新井利直;山崎英数 | 申请(专利权)人: | 富士胶片株式会社 |
主分类号: | B29C41/52 | 分类号: | B29C41/52;B29C41/28;B29L7/00 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 臧建明 |
地址: | 日本东京港区*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 环状 检查 方法 装置 | ||
1.一种金属制环状带的检查方法,所述环状带具备表面和里面,所述表面上设定从流延模流下的浓液所到达的到达位置,并形成由所述到达的浓液组成的流延膜,当所述环状带循环移动时,所述里面由制膜用辊支撑,其特征在于,环状带的检查方法具备以下步骤:
(A)计算从所述表面上的测定位置到检查用辊的支撑面的距离H,所述测定位置对应所述到达位置,针对通过所述检查用辊支撑所述里面并外加移动张力的状态的所述环状带计算所述距离H;
(B)根据式(1)计算所述测定位置上的从所述支撑面至所述里面的浮起量CL,所述式(1)为CL=H-D,所述D为所述测定位置上的所述环状带的厚度;及
(C)判定所述计算出的浮起量CL是否在阈值以下。
2.如权利要求1所述的环状带的检查方法,其中,
所述检查用辊在轴向中央部支撑所述环状带,以便轴向端部露出,在所述A步骤中利用测距单元测定从所述测定位置到所述测距单元的距离A和从所述测定位置上的所述轴向端部至所述测距单元的距离B,并根据式(2)计算所述距离H,其中,
式(2)为H=B-A。
3.如权利要求1所述的环状带的检查方法,其中,
在所述B步骤中,从存储部读取所述环状带的厚度D,并利用从所述存储部读取的所述环状带的厚度D计算所述浮起量CL,其中存储部中从设定在所述环状带上的基准位置至所述测定位置的位置信息和所述测定位置上的所述环状带的厚度D相关联而被存储。
4.如权利要求1所述的环状带的检查方法,其中,
所述环状带由金属制第1网和焊接在该第1网的宽度方向一侧的金属制第2网组成。
5.如权利要求1所述的环状带的检查方法,其中,
所述制膜用辊和所述检查用辊为同一辊。
6.如权利要求1所述的环状带的检查方法,其中,
所述移动张力为60N/mm2,所述阈值为0.1mm以下。
7.一种金属制环状带的检查装置,所述环状带具备表面和里面,所述表面上设定从流延模流下的浓液所到达的到达位置,并形成由所述到达的浓液组成的流延膜,当所述环状带循环移动时,所述里面由制膜用辊支撑,其特征在于,所述环状带的检查装置具备:
距离计算部,计算从所述表面上的测定位置到检查用辊的支撑面的距离H,所述测定位置对应所述到达位置,针对通过所述检查用辊支撑所述里面并外加移动张力的状态的所述环状带计算所述距离H;
浮起量计算部,根据式(1)计算所述测定位置上的从所述支撑面至所述里面的浮起量CL,所述式(1)为CL=H-D,所述D为所述测定位置上的所述环状带的厚度;及
判定部,判定所述计算出的浮起量CL是否在阈值以下。
8.如权利要求7所述的环状带的检查装置,其中,
具备测定距离A和距离B的测距单元,所述距离A是从所述测距单元到所述测定位置的距离,所述距离B是从所述测距单元到在轴向中央部支撑所述环状带的所述检查用辊所露出的轴向端部的距离,所述距离计算部根据式(2)计算所述距离H,其中,
式(2)为H=B-A。
9.如权利要求7所述的环状带的检查装置,其中,
具有从设定在所述环状带上的基准位置至所述测定位置的位置信息和所述测定位置上的所述环状带的厚度D相关联而被存储的存储部,所述浮起量计算部利用存储在所述存储部中的所述环状带的厚度D计算所述浮起量CL。
10.如权利要求7所述的环状带的检查装置,其中,
所述制膜用辊和所述检查用辊为同一辊。
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