[发明专利]一种快速测定甲基肼中杂质含量的方法无效

专利信息
申请号: 201210036774.0 申请日: 2012-02-17
公开(公告)号: CN102608242A 公开(公告)日: 2012-07-25
发明(设计)人: 王卫国;吉卉;郭友;闫小宁;马翔;田建军;李承柱;陈卫民;白海龙;罗斌;姚中东;李军平;陈帅;何宇;苏雪春;许东兴;杨玲;王龙龙;许峰;李军锋;张慧;刘丽 申请(专利权)人: 西安航洁化工科技有限责任公司
主分类号: G01N30/88 分类号: G01N30/88
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 张倩
地址: 710100 陕西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 快速 测定 甲基 杂质 含量 方法
【说明书】:

技术领域

发明属于分析化学领域,提供了一种快速测定甲基肼中杂质含量的方法。

背景技术

甲基肼是重要的有机合成中间体,广泛应用于医药、农药、染料、宇航燃料等领域。在甲基肼的合成过程中常常伴有未反应的原料水合肼、甲醇,副产物氨、对二甲肼以及三甲基肼的出现,这些杂质含量的高低在很大程度上影响着甲基肼的质量。因此,对甲基肼中的各种杂质进行定量分析,将会为生产提供准确的分析数据,从而有利于更好地调整操控条件,改进生产工艺,使甲基肼的质量得到更进一步的提高。

目前,关于甲基肼纯度的分析方法仅仅对甲基肼的含量测定进行了规定,并未对其中的杂质含量测定进行说明,并且该方法采用常规的化学分析法,操作复杂且耗费时间长,对工业化的指导意义不大。

发明内容

为了解决现有的甲基肼的分析方法只能测定出甲基肼的含量,无法对甲基肼中各种杂质含量进行测定的技术问题,本发明的目的是要提供一种快速测定甲基肼中杂质含量的方法,为甲基肼工业化生产提供及时、有效的参考数据。

为实现上述目的,本发明采用的技术方案为:

一种快速测定甲基肼中杂质含量的方法,其特殊之处在于:包括以下步骤:

1]进样:将已知体积的待测甲基肼样品经过分流/不分流进样口推进入气化室,进样口温度为250℃,分流比为25∶1;

2]气化:待测甲基肼样品经过气化得到待测气体,以惰性气体为载气,待测气体进入毛细管柱,所述毛细管柱的柱长为60m,柱内径0.32vmm,柱膜厚度为5μm;

3]分离:待测气体在毛细管柱中的运行速度为3-5ml/min,毛细管柱的初始温度为60℃-80℃,在初始温度下保持9min,以20℃/min的速度将初始温度升温至140℃-160℃,在140℃-160℃时恒温2min;

4]检测:按照不同组分对毛细管柱吸附能力大小的不同,按照先后顺序依次进入热导检测器输出色谱图:其中热导检测器的工作温度为:250℃-300℃;

5]通过面积归一化法计算得出各个杂质的含量。

上述毛细管柱的初始温度为70℃。

上述毛细管柱的初始温度最终升温至150℃。

上述热导检测器的工作温度为:270℃。

上述待测气体在毛细管柱中的运行速度为3ml/min。

本发明所具有的优点:

1、本发明涉及一种甲基肼中杂质含量的测定新方法,该方法无需进行样品处理,直接进样,操作简单、快速,结果准确,克服了传统检测方法时间长、操作复杂等缺点,适用于工业化生产中甲基肼质量的控制分析。

2、采用本发明的方法检测甲基肼中的杂质含量,简单、快速,且测定结果准确,相对误差小于5%。

附图说明

图1是实施例1中甲基肼样品的气相色谱图。

图2是实施例2中甲基肼样品的气相色谱图。

图3是实施例3中甲基肼样品的气相色谱图。

具体实施方式

实施例1

①仪器:气相色谱仪配有热导检测器,采用分流/不分流进样口,毛细管柱为60m×0.32mm×5μm。

②测试条件:手动进样;进样量为1μL;柱箱温度60℃、后进样口温度为250℃、后检测器温度为250℃;分流比为25∶1;柱温60℃保持9分钟,以20℃/min程序升温至150℃,恒温2min;色谱柱流量为3ml/min;载气为高纯氦气。

③采用面积百分比法对甲基肼样品1进行气相检测。

色谱图如图1所示,结果如表1所示,各组分与保留时间见表1。

表1

实施例2

利用气相色谱快速测定甲基肼中杂质的含量,包括以下步骤:

①仪器:气相色谱仪配有热导检测器;进样口为分流/不分流进样口;毛细管柱长60m、内径0.32mm、膜厚度5μm。

②测试条件:手动进样;进样量为1μL;柱箱温度70℃、后进样口温度为250℃、后检测器温度为270℃;分流比为25∶1;柱温70℃保持9分钟,以20℃/min程序升温至150℃,恒温2min;色谱柱流量为3ml/min;载气为高纯氦气。

③采用面积百分比法对其中的杂质进行定量分析。

经色谱柱分离的甲基肼样品色谱图如图2所示,结果如表2所示。

表2

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