[发明专利]一种X射线同轴相衬成像方法

权利要求书

1.一种X射线同轴相衬成像方法，包括下列步骤：

1)设置X射线同轴相衬成像的下列参数：光源到成像物体的距离及成像物体到探测器的距离；

2)设置数字放射成像系统的曝光参数；

3)放置刀口器具紧贴探测器表面，连续采集n幅图像，从每幅图像获取不同位置的刀口截面曲线m条，而后将n*m条刀口截面曲线进行平均，再对平均曲线求导数，获得对应的探测器传递函数曲线h(x)；

4)从h(x)转换得到Toeplitz块循环矩阵，即探测器传递函数矩阵H；

5)在探测器上方放置载物台，载物台平面与探测器平面平行，并保持一定距离，放置成像物体，对物体成像，获得成像结果y；

6)根据空间域的相衬成像恶化模型y(x)＝f(x)*h(x)+n(x)，y(x)是恶化后的实际测量图像，n(x)是系统噪声，*为卷积运算符，将其转换为矩阵形式的相衬成像恶化模型，y＝Hf+n，y，f和n分别代表y(x)，f(x)和n(x)的向量形式；

7)根据物体同轴相衬成像结果y，以及探测器传递函数矩阵H，选取一种正则化矩阵L，通过L曲线方法，获取其对应的最优正则化参数λ；

8)根据正则化矩阵L及相应的最优正则化参数λ，计算同轴相衬成像结果的正则化图像恢复的数值解f^=(HTH+λ2LTL)HTy.]]>

2.根据权利要求1所述的提高X射线同轴相衬成像质量的方法，其特征在于，其中的步骤7)，选取的正则化矩阵L为二阶导矩阵。