[发明专利]一种用于测试功能电路的方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试方法，尤其涉及一种用于测试功能电路的方法及装置，以及一种电路盘。

背景技术

电路盘不断增加的布局密度以及复杂性增加了在产品研发和检验期间质量以及性能检测的复杂性。为了检验产品的质量以及性能，采取了许多测试方法来检测产品性能，尤其是产品的供电性能，诸如欠压测试方法、过压测试方法以及电压噪声容限测试方法等。

现有技术中，为了实现欠压测试方法、过压测试方法以及电压噪声容限测试方法等，通常需要外接测试装置，该外接测试装置能够调节噪声的幅度、频率等，也能够提供可调节的电压，并将其所产生的测试信号经由输入电缆输送至产品，例如电路盘。然而，这类外接测试装置通常相对昂贵，从而增加了测试成本。此外，为了在各种情况下检验产品，需要手动地调节并且小心地设置测试信号，相当耗时，效率较低。在大多数情况下，测试信号必须经由较长的电缆才能够进入待测电路盘中，这在一些情况下会引起不必要的信号损耗，并且带来电缆中的额外的噪声，从而影响了测试的精确性。

另一方面，通常将测试信号输入至电路盘的供电电路的输入端，对整个电路盘进行测试。在这个情况下，当存在电压波动时，并不能够准确实时地掌控电路盘中的具体的功能电路，例如SDH通信电路、以太网通信电路、CPU及内存电路以及FPGA及内存电路等的运行情况，从而不能够获知该些功能电路所存在的问题。如果需要对功能电路进行欠压测试、过压测试以及电压噪声容限测试，则需要在供电电路与功能电路之间焊接新的连接端以接入外接测试装置，这将相当复杂，并且破坏了原有的产品。

发明内容

可见，背景技术中所提到的测试功能电路的方法存在的缺点在于复杂性较高、较为昂贵，测试效率以及准确性较低。

为了解决上述技术问题，根据本发明的一个方面，本发明提供了一种用于测试功能电路的装置，其中供电电路通过所述装置向所述功能电路供电，所述供电电路具有输出引脚、反馈引脚以及接地引脚，所述装置包括：第一调节电路，其具有根据测试类型耦合在所述供电电路的所述输出引脚和所述接地引脚中的一个与所述反馈引脚之间的、一个电阻以及与所述电阻串联的第一开关，或至少两个相互并联的电阻以及与各个所述电阻分别串联的第一开关；以及第一控制单元，其经由第一控制总线与各个所述第一开关连接，以控制各个所述第一开关的开关操作。

根据本发明的一个实施例，所述装置还包括：第二调节电路，其具有耦合在所述供电电路的所述输出引脚和所述接地引脚中的另一个与所述反馈引脚之间的一个电阻以及与所述电阻串联的第二开关，或至少两个相互并联的电阻以及与各个所述电阻分别串联的第二开关；以及第二控制单元，其经由第二控制总线与各个所述第二开关连接，以控制各个所述第二开关的开关操作。

根据本发明的一个实施例，所述第一开关以及所述第二开关包括以下各项中的至少一项：-金属氧化物半导体场效应晶体管；-光电耦合器；-继电器；以及-晶体管。

根据本发明的一个实施例，所述测试类型包括过压测试、欠压测试或电压噪声容限测试。

根据本发明的另一方面，本发明提供了一种用于测试功能电路的方法，其中供电电路通过所述方法向所述功能电路供电，所述供电电路具有输出引脚、反馈引脚以及接地引脚，所述方法包括：根据测试类型，将一个电阻以及与所述电阻串联的第一开关，或至少两个相互并联的电阻以及与各个所述电阻分别串联的第一开关耦合在所述供电电路的所述输出引脚和所述接地引脚中的一个与所述反馈引脚之间；以及控制各个所述第一开关的开关操作。

根据本发明的一个实施例，所述方法还包括：将一个电阻以及与所述电阻串联的第二开关，或至少两个相互并联的电阻以及与各个所述电阻分别串联的第二开关耦合在所述供电电路的所述输出引脚和所述接地引脚中的另一个与所述反馈引脚之间；以及控制各个所述第二开关的开关操作。

根据本发明的一个实施例，所述第一开关和所述第二开关包括以下各项中的至少一项：-金属氧化物半导体场效应晶体管；-光电耦合器；-继电器；以及-晶体管。

根据本发明的一个实施例，所述测试类型包括过压测试、欠压测试或电压噪声容限测试。

根据本发明的又一发明，本发明提供了一种电路盘，其包括供电电路；依据本发明的装置；以及功能电路；其中，所述供电电路通过所述装置向所述功能电路供电。