[发明专利]一种用于测试功能电路的方法及装置

权利要求书

1.一种用于测试功能电路的装置，其中供电电路通过所述装置向所述功能电路供电，所述供电电路具有输出引脚、反馈引脚以及接地引脚，所述装置包括：

第一调节电路，其具有根据测试类型耦合在所述供电电路的所述输出引脚和所述接地引脚中的一个与所述反馈引脚之间的、一个电阻以及与所述电阻串联的第一开关，或至少两个相互并联的电阻以及与各个所述电阻分别串联的第一开关；以及

第一控制单元，其经由第一控制总线与各个所述第一开关连接，以控制各个所述第一开关的开关操作。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

第二调节电路，其具有耦合在所述供电电路的所述输出引脚和所述接地引脚中的另一个与所述反馈引脚之间的一个电阻以及与所述电阻串联的第二开关，或至少两个相互并联的电阻以及与各个所述电阻分别串联的第二开关；以及

第二控制单元，其经由第二控制总线与各个所述第二开关连接，以控制各个所述第二开关的开关操作。

3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述第一开关和所述第二开关包括以下各项中的至少一项：

-金属氧化物半导体场效应晶体管；

-光电耦合器；

-继电器；以及

-晶体管。

4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述测试类型包括过压测试、欠压测试或电压噪声容限测试。

5.一种用于测试功能电路的方法，其中供电电路通过所述方法向所述功能电路供电，所述供电电路具有输出引脚、反馈引脚以及接地引脚，所述方法包括：

根据测试类型，将一个电阻以及与所述电阻串联的第一开关，或至少两个相互并联的电阻以及与各个所述电阻分别串联的第一开关耦合在所述供电电路的所述输出引脚和所述接地引脚中的一个与所述反馈引脚之间；以及

控制各个所述第一开关的开关操作。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

将一个电阻以及与所述电阻串联的第二开关，或至少两个相互并联的电阻以及与各个所述电阻分别串联的第二开关耦合在所述供电电路的所述输出引脚和所述接地引脚中的另一个与所述反馈引脚之间；以及

控制各个所述第二开关的开关操作。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述第一开关和所述第二开关包括以下各项中的至少一项：

-金属氧化物半导体场效应晶体管

-光电耦合器；

-继电器；以及

-晶体管。

8.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述测试类型包括过压测试、欠压测试或电压噪声容限测试。

9.一种电路盘，其包括

供电电路；

根据权利要求1-4中任一项所述的装置；以及

功能电路；

其中，所述供电电路通过所述装置向所述功能电路供电。