[发明专利]质量分析装置有效
申请号: | 201210031337.X | 申请日: | 2012-02-13 |
公开(公告)号: | CN102737951A | 公开(公告)日: | 2012-10-17 |
发明(设计)人: | 能田弘行;大沼满;佐藤庸子;石黑浩二;诸熊秀俊;大月繁夫;衣斐奈美 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 |
主分类号: | H01J49/00 | 分类号: | H01J49/00;H01J49/02 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 钟晶;於毓桢 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 质量 分析 装置 | ||
1.一种质量分析装置,其特征在于:
在箱体的中央配置重量件,并在该箱体的两侧具备将多个电路基板分开收放的电路基板收放部,该重量件包括:真空室、使该真空室成为真空的真空泵、导入测定的试样并使其气化的试样导入部、使该气化了的试样离子化并提供给所述真空室的离子化部、以及与所述真空室连接的离子检测器。
2.根据权利要求1所述的质量分析装置,其特征在于:
所述箱体的大小为高度尺寸小于横宽尺寸,进深尺寸小于该高度尺寸,
所述电路基板收放部设于横宽方向的所述箱体的两侧。
3.根据权利要求2所述的质量分析装置,其特征在于:
配置于所述电路基板收放部的所述多个电路基板沿着高度方向排列。
4.根据权利要求2或3的任一项所述的质量分析装置,其特征在于:
所述电路基板收放部在高度方向的该箱体的两端部具备吸排气口。
5.根据权利要求1所述的质量分析装置,其特征在于:
在该两侧的所述电路基板收放部形成排气通道。
6.根据权利要求5所述的质量分析装置,其特征在于:
所述箱体的大小为高度尺寸小于横宽尺寸,进深尺寸小于该高度尺寸,
所述排气通道设于横宽方向的所述箱体的两侧。
7.根据权利要求6所述的质量分析装置,其特征在于:
配置于所述排气通道的所述多个电路基板沿着高度方向排列。
8.根据权利要求6或7的任一项所述的质量分析装置,其特征在于:
所述排气通道在高度方向的所述箱体的两端部具备吸排气口。
9.一种质量分析装置,其特征在于:
在高度尺寸小于横宽尺寸且进深尺寸小于该高度尺寸的箱体的中央配置重量件,该重量件包括:真空室、使该真空室成为真空的真空泵、导入测定的试样并使其气化的试样导入部、使该气化了的试样离子化并提供给所述真空室的离子化部、以及与所述真空室连接的离子检测器,
在横宽方向的所述箱体的两侧设有将多个电路基板分散收放的电路基板收放部,
具备一对所述电路基板收放部的箱体两端部形成向高度方向的一方伸出的伸出部,
设有连结该一对伸出部的棒状的手把部,
在所述箱体的最宽大面的一方设有操作部,该操作部具备向所述试样导入部进行试样投入的投入口。
10.根据权利要求9所述的质量分析装置,其特征在于:
所述电路基板收放部是沿着高度方向排列了所述多个电路基板的排气通道,在高度方向的该箱体的两端部具备吸排气口。
11.根据权利要求10所述的质量分析装置,其特征在于:
所述操作部由开关盖覆盖,且具备运转状态显示部及检查开始按键。
12.根据权利要求9所述的质量分析装置,其特征在于:
所述真空泵内具备旋转体,
按照使得在把持所述手把部使装置抬起时,所述真空泵内的旋转体的旋转轴成为水平方向或垂直方向的方式来配置所述真空泵。
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