[发明专利]基于面结构光和光笔的复杂零部件精密三维测量方法无效

专利信息
申请号: 201210029747.0 申请日: 2012-02-10
公开(公告)号: CN102564350A 公开(公告)日: 2012-07-11
发明(设计)人: 李中伟;史玉升;王从军;雷玉珍;钟凯 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25;G01B11/00
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 曹葆青
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 基于 结构 光和 光笔 复杂 零部件 精密 三维 测量方法
【说明书】:

技术领域

发明属于精密测量领域,具体涉及一种基于面结构光和光笔的复杂零部件精密三维测量方法及其系统,本发明使用面结构光三维测量技术测量零部件表面的复杂形面,使用光笔测量技术测量零部件内壁和深孔等特征尺寸。

背景技术

复杂零部件的精密三维测量在工业设计、质量检测等领域具有重要作用,目前常用的测量方式一般分为接触式与非接触式两种。传统的接触式三坐标测量机测量精度很高,但价格昂贵,且对实验室环境要求高,不能实现工业现场测量。非接触式如结构光测量系统,能够快速获取大量点云,但是没有办法获取单个特征点的三维坐标,更不能测量深孔等物体遮光部位的三维坐标。关节臂在局部范围内测量的柔性相对较高,但是柔性关节臂机械结构复杂,造价昂贵。光笔坐标测量(也被称为手持式视觉坐标测量)是近年来测量领域中的新测量技术,可以实现工业现场测量。

在国内对光笔测量技术的研究取得了一定的成果,如1998年发表在期刊《光学精密工程》第5期14-20页上的文献《测头成像视觉坐标测量系统中特征点成像中心获取》及1999年发表在《仪器仪表学报》第5期59-62页上的文献《单摄像机测头成像视觉坐标测量系统建模》中提出了一种单相机测量系统,但是存在局限性,如精度低、只能测距、不能得出被测点的三维坐标;2007年发表在期刊《光电子·激光》第1期85-88页上的文献《光笔式单摄像机三维坐标视觉测量系统建模》中提出了一种单相机的手持式视觉测量模型,论证了单摄像机光笔测量系统能够测量空间三维坐标,并且研制出了样机,但是其模型要求手持式光笔标志点严格在一条直线上,增加了加工难度,同时不可避免地会带来一些误差;2008年发表在期刊《中国机械工程》第8期896-899页上的文献《基于双目立体视觉的光笔式三坐标测量系统》中提出了一种双目光笔测量模型,但是仍然要求光笔上面粘贴的标志点严格在一条直线上,同样存在加工难度大、精度难以保证等缺点。此外,光笔测量技术一次只能测量一个特征点数据,测量效率较低,无法高效的测量零部件表面复杂形面的三维数据。

发明内容

本发明的目的在于提供一种基于面结构光和光笔的复杂零部件精密三维测量方法及其系统,本发明测量效率较高,可以将测量得到的三维数据自动融合到同一坐标系下,能够高效测量零部件表面复杂形面的三维数据。

本发明提供的一种复杂零部件精密三维测量方法,包括零部件表面复杂形面的三维测量和特征尺寸的三维测量;

零部件表面复杂形面的三维测量的步骤为:

向被测区域投射一组编码光栅图像,利用两个数字相机拍摄经零部件表面调制而变形的光栅图像,得到两组变形的光栅图像;再对这两组变形的光栅图像进行四步相移解相,得到光栅图像的相位主值,再采用三频外差原理进行相位展开,最终得到相应的连续相位;然后利用基于极限约束的立体匹配算法获取两个数字相机所拍摄的图像的匹配点;匹配完成后使用双目立体视觉原理进行点云重构,计算得到被测物体表面的三维点坐标;

特征尺寸的三维测量的步骤为:

T形杆和测头构成光笔;首先对T形杆上的至少三个回光反射标志点进行标定,建立光笔坐标系,并对测头的中心位置进行自标定,得到多组回光反射标志点在世界坐标系下的三维坐标,最后根据世界坐标系和光笔坐标系之间的转换关系,获得旋转矩阵Ri和平移矩阵Ti,由PgRi+Ti=Pc,得到测头在光笔坐标系下的坐标Pg,最后再计算得到被测物体点在世界坐标系下的三维坐标Pc

本发明提供的实现上述复杂零部件精密三维测量方法的系统,它包括数字投影装置,第一、第二数字相机,T形杆,测头和计算机,第一、第二数字相机具有相同的参数,其光心轴与数字投影装置的光心轴夹角均在20至30度之间,且保持相对位置不变;T形杆的正面粘贴有至少3个回光反射标志点,T形杆和测头构成光笔,所述第一、第二数字相机以及数字投影装置均与所述计算机通过数据线连接。

测量时使用面结构光三维测量技术测量零部件表面的复杂形面,使用光笔测量技术测量零部件内壁、深孔等特征尺寸,两者共用两个数字相机,测量得到的三维数据可以自动融合到同一坐标系下。

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