[发明专利]图像摄取设备及其控制方法

说明书

本申请是PCT申请日为2008年12月8日、PCT申请号为PCT/JP2008/072719、国家申请号为200880119721.7、申请人为佳能株式会社的发明专利申请的分案申请。

技术领域

本发明涉及一种图像摄取设备及其控制方法，更具体地说，本发明涉及使用焦点评估像素来执行焦点检测的图像摄取设备以及用于这种图像摄取设备的控制方法。

背景技术

随着图像摄取设备(诸如数码静态相机等)所配备的图像传感器的复杂性新近的进展，执行高速度、高精度的图像处理变得比以往更加重要。同时，在现有技术中，已经提出了一种通过使用图像传感器中用于调焦的一部分区域来快速且精确地执行自动聚焦(以下，称为“焦点检测”)的方法。

日本专利公开第2000-156823号公开了一种图像摄取设备，其中，用于焦点检测的划分的光瞳(divided-pupil)像素(以下，称为“焦点检测像素”)位于图像传感器的R、G、B颜色滤波器中的G颜色滤波器的一部分处。基于从这些焦点检测像素获得的信息来执行焦点检测。尽管从焦点检测像素获得用于焦点检测的像素信号，但是没有获得用于形成图像部分的像素信号。结果，有必要利用邻近的成像像素的像素信号来补偿来自焦点检测像素的信号，其中，对于所述成像像素获得用于形成图像部分的像素信号。

相对地，日本专利公开第2000-305010号公开了一种使用从焦点检测像素周围的像素获得的图像信号来对图像信号进行插值以形成在焦点检测像素的位置丢失的图像的方法。然而，在图像传感器的制造过程中的缺陷(诸如白色缺陷和黑色缺陷)存在于焦点检测像素中的情况下，难以使用焦点检测像素周围的像素的图像信号来校正从焦点检测像素获得的用于焦点检测的像素信号。

此外，日本专利公开第2001-177756号公开了：当焦点检测像素中存在缺陷时，通过将在焦点检测像素附近的成像像素用作焦点检测像素，按照与焦点检测像素中不存在缺陷的情形下相同的方式来执行焦点检测。

然而，在日本专利公开第2001-177756号中，假设焦点检测像素没有被配置为划分的光瞳像素，而是按照与成像像素相同的方式被配置。结果，在焦点检测像素被配置为划分的光瞳像素的情形下，当焦点检测像素中存在缺陷时，难以使用附近的成像像素来校正用于焦点检测的图像信号。

发明内容

考虑到上述情形而提出本发明，其目的在于当包括划分的光瞳像素的焦点检测像素中存在缺陷时，执行适当的焦点检测。

根据本发明，通过提供一种图像摄取设备来实现上述目的，所述图像摄取设备包括：

图像传感器，其中，将二维排列的像素中的至少一部分配置为具有划分的光瞳的焦点检测像素；

存储控制装置，被配置为用于从存储器读出存储在存储器中的焦点检测像素的位置信息；以及

校正装置，被配置为用于基于焦点检测像素的位置信息来识别图像传感器中焦点检测像素的位置，并使用无缺陷的焦点检测像素信号来校正有缺陷的焦点检测像素信号。

根据本发明，还通过提供一种控制设置有图像传感器的图像摄取设备的控制方法来实现上述目的，在所述图像传感器中，二维排列的像素中的至少一部分被配置为具有划分的光瞳的焦点检测像素，所述控制方法包括：

读出步骤，用于从存储器读出存储在存储器中的焦点检测像素的位置信息；以及

校正步骤，用于基于焦点检测像素的位置信息来识别图像传感器中焦点检测像素的位置，并使用无缺陷的焦点检测像素信号来校正有缺陷的焦点检测像素信号。

通过以下(参照附图)对优选实施例的描述，本发明的其它特点和优点将变得清晰。

附图说明

图1是根据本发明优选的第一实施例的图像摄取设备的框图；

图2是校正标记电路的电路图；

图3是示出存储在ROM中的校正信息的结构的示图；

图4A和图4B是示出焦点检测像素的图像A和图像B的示图；

图5是图像信号校正电路的电路图；

图6是示出计算电路中的校正目标像素和参考像素的示图；

图7是焦点检测信号校正电路的电路图；

图8是示出计算电路中校正目标像素和参考像素的示图；

图9是根据本发明优选的第二实施例的图像摄取设备的框图；

图10是校正标记电路的电路图；

图11是示出存储在ROM中的校正信息的结构的示图；

图12是焦点检测像素的图像A和图像B与光瞳划分方向比特之间的关系的示图；