[发明专利]激光测距装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种测距装置，特别是涉及一种激光测距装置。

背景技术

目前，激光测距装置的设计原理大同小异，其基本结构已为公知。例如，公开号为CN1512136A的中国发明专利以及公告号分别为CN202002638U和CN201203667Y的中国实用新型专利均公开了一种激光测距装置。

现参照图1对公告号为CN202002638U的实用新型专利进行简单说明。

图1所示的激光测距装置包括用于发射测距光的光源部1、用于将测距光透过物镜组4转发至测定目标6的光转发部2以及用于接收由测定目标6反射并透过物镜组4返回的测距光的受光部5。其中，物镜组包括由凸透镜构成的前片和正片以及由凹透镜构成的负片。

光源部1包括光源101、第一滤光器102和光阑103。光源101用于发射第一测距光，当所述第一滤光器102位于发射光轴104上时，其用于调整所述第一测距光的光强；当所述光阑103位于发射光轴104上时，其用于调整经第一滤光器102调整后的第一测距光的功率，并满足束散角的需要，使之成为适合在棱镜测距模式中应用的第二测距光。

光转发部2包括第一光路偏转部件201、准直透镜202和第二光路偏转部件203。从光源部1发射的测距光沿发射光轴104，经由第一光路偏转部件201反射入准直透镜202，经准直透镜202成为平行光束发射至第二光路偏转部件203，并由第二光路偏转部件203反射至物镜4，并透过物镜4发射到测定目标6；物镜4将测距光发射到测定目标6，由测定目标6反射的反射测距光经由物镜4发送到第三光路偏转部件501，并由第三光路偏转部件501反射到第二光路偏转部件203，再由第二光路偏转部件203反射入接收光纤502。

受光部5包括第三光路偏转部件501和接收光纤502，经物镜4过来的反射测距光由第三光路偏转部件501和第二光路偏转部件203反射至接收光纤502。

该激光测距装置的工作过程为：

首先，将光源101开启，发出第一测距光。

在免棱镜测距模式，第一滤光器102和光阑103偏离发射光轴104，第一测距光经第一光路偏转部件201反射入准直透镜202，经过准直透镜202变为平行光后，再经第二光路偏转部件203反射，透过物镜4发射到测定目标6。

在棱镜测距模式，第一滤光器102和光阑103位于发射光轴104上。光阑103能使第一测距光成为适合在棱镜测距模式中应用的第二测距光。第二测距光经反光片201反射入准直透镜202，经过准直透镜202变为平行光后，再经第二光路偏转部件203反射，透过物镜组4发射到测定目标6。

在该激光测距装置中，测距光由第二偏转部件203向物镜4出射时，必然在物镜4的后端面4A上发生微弱的反射，这些反射光经过漫射后有一部分会投射到第三光路偏转部件501，接下来便会经由第三光路偏转部件501反射到第二光路偏转部件203，再由第二光路偏转部件203反射入接收光纤502，从而对由测定目标6反射的反射测距光最终反射入接收光线502形成干扰，这些干扰在棱镜测距模式下测量时，由于回光信号较强，形成不了较大的误差；但在免棱镜测距模式下测量时，由于回光信号非常的微弱，会导致较大的误差。

这种误差为周期性重复出现的周期误差，其具有不稳定性和不可预知性，影响测距精度。

发明内容

有鉴于此，本发明提出一种能够提高测距精度的激光测距装置。

为实现上述目的，本发明的实施例提供了一种激光测距装置，包括：光源部，用于发射测距光；物镜组，包括由凸透镜构成的前片和正片以及由凹透镜构成的负片；光转发部，用于将所述测距光透过所述物镜组转发至测定目标；受光部，用于接收由所述测定目标反射并透过所述物镜组返回的测距光；所述正片和负片的中心具有第一通孔。

优选地，所述光转发部包括第一偏转部件、准直透镜和第二偏转部件；其中，所述第一偏转部件位于所述光源部所在的光轴上并将所述光源部发射的测距光经所述准直透镜偏转至与所述物镜组同轴的第二偏转部件上，所述第二偏转部件将接收到的光经过所述第一通孔转发至所述测定目标；所述第一通孔的内径大于所述第二偏转部件的高度。

优选地，所述第一通孔的内表面被涂黑。

优选地，所述前片的中心具有第二通孔；所述激光测距装置还包括：平面镜座，包括固定于所述第二通孔内表面的套筒部分以及设置于套筒一端的法兰部分；平面镜，固定于所述套筒部分内部并与所述法兰部分接触。

优选地，所述第一通孔和第二通孔的内径大小相同。