[发明专利]光学信息记录介质的制造方法及光学信息记录介质无效
申请号: | 201210015079.6 | 申请日: | 2012-01-17 |
公开(公告)号: | CN102629482A | 公开(公告)日: | 2012-08-08 |
发明(设计)人: | 乡古健 | 申请(专利权)人: | 索尼公司 |
主分类号: | G11B7/26 | 分类号: | G11B7/26;G11B7/242 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 余刚;吴孟秋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 信息 记录 介质 制造 方法 | ||
技术领域
本发明涉及光学信息记录介质的制造方法和光学信息记录介质。更详细地,本发明涉及制造设置有多个信息信号层的光学信息记录介质的方法。
背景技术
近年来,在再现专用型DVD(DVD-ROM:数字通用光盘-只读存储器)、记录型DVD等中存在广泛的版权保护技术。作为一种技术,在没有在光盘上记录的状态下在最内周侧区域(烧录区:BCA)内,被称为介质ID的固有二进制信息记录在介质上,使用该介质ID对记录的内容数据进行加密。
此外,同样在诸如蓝光光盘(注册商标)(BD)的高密度光学信息记录介质中,提出了在BCA中以条形码形式记录作为二进制信息的标记(下面称作BCA标记)。
通常,在制造光学信息记录介质之后,记录BCA标记。例如,在已顺次执行了基板的形成、信息信号膜的沉积以及中间层和覆盖层的形成之后,执行BCA标记的记录。在光学信息记录介质的初始状态下,信息信号膜是未记录状态,并且通过仅在对应于BCA标记的必要部分上执行激光照射而被设定为记录状态。这时,通常从作为没有形成基板的信息信号膜一侧的表面侧照射激光。
在光学信息记录介质的树脂基板中,因为由于温度变化等而导致基板中的湿气分布不均匀以及存在水分含量高的地方膨胀,光学信息记录介质的翘曲发生。对于此,在日本未审查专利申请公开2003-3380842中公开了一种技术,其中通过在基板的一个主面上设置不透湿膜(防湿膜)来防止水分出入基板。
发明内容
在光学信息记录介质中,由于确保偏移特性,所以在基板的主面(没有形成信息信号膜的一侧的主面)上形成防湿膜。在BCA中形成防湿膜。因此,为了避免BCA标记的记录变得困难,在基板的一个主面上顺次形成信息信号膜、中间膜、覆盖膜等之后执行BCA标记的记录,并且在那之后,在基板的另一主面(没有形成信息信号膜的一侧的主面)上形成防湿膜。
然而,在信息信号膜的沉积过程中,如果树脂基板中的湿气排放至用于沉积信息信号膜的真空溅射设备中,那么信息信号膜的记录特性等低下。为了防止这种情况,优选的是,在沉积信息信号膜之前对基板的主面形成防湿膜。
然而,难以在沉积信息信号膜前执行防湿膜的形成。这是因为,由于防湿膜也形成在BCA中,所以当在记录BCA标记前形成防湿膜时,从基板的背面侧照射的用于BCA标记记录激光的需要透过防湿膜,并且在记录BCA标记时对信息信号膜执行记录,结果,由于激光的透过不足而使得BCA标记的记录变得困难。另一方面,如果在形成信息信号层之后执行防湿膜的形成,那么如上所述,诸如信息信号膜的记录特性的各种特性将低下。
因此,期望提供一种能够提高记录特性等的特性的光学信息记录介质的制造方法和光学信息记录介质。
根据本发明第一实施方式,一种光学信息记录介质的制造方法包括:形成具有第一主面和第二主面的基板;在基板的第一主面上形成第一信息信号层;在第一信息信号层上形成中间层;在中间层上形成第二信息信号层;从基板的第二主面侧照射光且在第一区域和第二区域中的第一区域上记录识别信息;以及在记录识别信息前,在除记录识别信息的第一区域以外的第二区域中对第二主面形成阻挡层。
根据本发明第二实施方式,一种光学信息记录介质设置有:具有第一主面和第二主面的基板;形成在基板的第一主面上且记录识别信息的一个或多个信息信号层;以及形成在第二主面上的阻挡层,其中在除记录识别信息的第一区域以外的第二区域中形成阻挡层。
在本发明的第一实施方式和第二实施方式中,在除记录识别信息的第一区域以外的第二区域中形成阻挡层。由于此,可以在记录识别信息前形成阻挡层,并且可以提高诸如记录特性的特性。
根据本发明的实施方式,能够提高诸如记录特性的特性。
附图说明
图1A和图1B是示出了根据本发明实施方式的光学信息记录介质的构成示例的截面图;
图2是示出了根据本发明实施方式的光学信息记录介质的构成的平面图;
图3是示出了根据本发明实施方式的形成在基板的背面上的阻挡层的沉积区的平面图;
图4是用于描述光学信息记录介质的制造过程的第一示例的流程图;
图5是示出了外周掩模和内周掩模的布置示例的外形图;
图6是用于描述光学信息记录介质的制造过程的第二示例的流程图;
图7是将关于记录灵敏度劣化率的测量结果汇聚一起的示图;
图8A和图8B是示出了实施例1的突变特性的测量结果的曲线图;
图9A和图9B是示出了比较例1的突变特性的测量结果的曲线图;以及
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