[发明专利]一种坑道定向γ能谱探测技术无效

专利信息
申请号: 201210011670.4 申请日: 2012-01-16
公开(公告)号: CN102590877A 公开(公告)日: 2012-07-18
发明(设计)人: 周四春;胡波;葛良全 申请(专利权)人: 成都理工大学;周四春;胡波
主分类号: G01V5/00 分类号: G01V5/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610059 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 坑道 定向 探测 技术
【说明书】:

(一)所属技术领域

申请的发明专利为一种在坑道内开展γ能谱测量必须的γ能谱仪附属设备及其配套的定向γ能谱测量方法。没有配备该类设备的γ能谱仪,在坑道内是无法获得准确的测量点的铀、钍、钾含量的。该设备是核地球物理勘查仪器设备,属于核地球物理勘探技术领域。 

(二)技术背景

在坑道内开展γ能谱测量时,γ能谱仪探测的γ射线不仅来自被测岩壁,也会接收到测点周围(如顶、底)坑道壁辐射的γ射线,不扣除周围坑道壁辐射的γ射线的贡献,按国家规范刻度的γ能谱仪就会给出显著偏高的铀、钍、钾含量。为了在坑道环境条件下正常开展γ能谱测量并获得准确的测量结果,发明人设计制作了坑道定向γ能谱探测装置。 

(三)发明内容

本发明由定向屏蔽机械装置与配套的定向γ能谱测量方法两部分构成。 

1、定向屏蔽机械装置 

该装置由一个10mm厚铅板弯曲构成的可拆卸式铅筒套(包含:1.10mm厚铅板2.钢制套筒3.支撑块4.侧铅板6.螺栓7.螺母),以及一个支撑架(包含:5.支撑板8.支撑杆)和一个可调支撑杆(包含:9.可调支撑杆10.紧定螺钉)构成。 

2、定向γ能谱测量方法 

根据选择的测量点位置调整好支撑架高度,先将γ能谱探头不戴套对测量点进行测量,得到不戴套的各能窗(U、Th、K)的测量数据I;然后,将γ能谱探头放入可拆卸式铅筒套,并调整支撑架将探头前端放置到刚才测量的同一位置,戴套进行第二次测量,得到各能窗戴套测量值I,将二次测量结果进行比较,并依据事先测定出铅套对各能窗射线的透过率系数,求出扣除周围环境影响后的测量点的γ射线照射量率值,并据此计算铀、钍、钾含量。 

本发明具有以下优点: 

(1)整个套筒装置采用内衬铅吸收材料的钢结构组成,牢固可靠,不易损坏,适应野外、矿井等作业。 

(2)结构简单,拆装方便,可由多人搬运。 

(3)支撑架为可调支架,可根据测量环境不同调节支架高度,有利于减轻工作人员劳动强度。 

(四)附图说明

图1:定向γ能谱探测装置零件图;图2:定向γ能谱探测装置轴测图;图3:定向γ能谱探测装置的爆炸图;图4:定向γ能谱探测装置实物(a);图5:定向γ能谱探测装置实物(b)。 

图中,1.10mm厚铅板,2.钢制套筒,3.支撑块,4.侧铅板,5.支撑板,6.螺栓,7.螺母,8.支撑杆,9.可调支撑杆,10.紧定螺钉。 

(五)具体实施方式

1)根据布设的欲测量点,调整装置到合适高度位置; 

2)将γ能谱探头不戴套对测量点进行直接测量,得到不戴套的各能窗(U、Th、K)的测量数据I; 

3)将γ能谱探头放入可拆卸式铅筒套(戴套)在相同地点进行测量,得到各能窗测量数据I; 

4)计算同一能窗戴套与不戴套两次测量值的差值: 

ΔI=I-I             (1-1) 

式中:I-不戴套之照射量率,包含了测点处岩石的贡献值I,以及周围环境的贡献值I,即有 

I=I+I             (1-2) 

I-同一能窗戴套测量之照射量率,包含了测点处岩石的贡献值I,以及被吸收部分后给探测器产生贡献的周围环境贡献值,即有 

I=I+α·I         (1-3) 

式中:α-是所用铅套对周围岩壁在相应能窗内产生的照射量率的透过率系数。当铅套足够厚,α=0。α可以通过实验方法事先测定。U、Th、K能窗的α系数是不同的,应分别测定。 

ΔI=I-I=I(1-α) 

由上式可以求出 

最后可以由I减去由(1-4)式求出的环境影响贡献,求出各能窗扣除周围环境影响后的测量点的γ射线照射量率值I;依据各能窗I值,求出U、Th、K的准确含量。 

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