[发明专利]影像处理方法、影像处理电路、液晶显示装置以及电子设备

说明书

技术领域

本发明涉及减少液晶面板显示上的问题的技术。

背景技术

液晶面板是由保持一定间隙的一对基板夹持液晶而构成。详细地，液晶面板具有如下构成：在一个基板上像素电极以像素为单位矩阵状地排列，在另一个基板上公共电极对于各个像素而言以共用的方式进行设置，利用像素电极和公共电极来夹持液晶。如果在像素电极与公共电极之间施加/保持与灰阶对应的电压，则液晶的取向状态会以像素为单位被确定，以此来对透射率或者反射率进行控制。因此，在上述构成中，可以说，只有作用于液晶分子的电场中的、从像素电极朝向公共电极的方向(或者其相反方向)，即相对于基板面垂直方向(纵向)的分量才对显示控制有效。

然而，近几年，为了小型化、高精度化缩小了像素间距，如此则会在相互邻接的像素电极彼此之间产生电场，即相对于基板面平行方向(横方向)上产生电场，其影响越发无法忽略。例如产生了如下之类的问题：如果对于如VA(Vertical Alignment)方式、TN(Twisted Nematic)方式等基于纵向电场进行驱动的液晶施加横向电场，则会产生液晶取向不良(换句话说，反向偏转区域)，从而在显示上出现问题。

为了减少该反向偏转区域的影响，提出了如下的多种技术：配合像素电极而规定遮光层(开口部)的形状等对液晶面板构造下功夫的技术(例如参照专利文献1)；当根据影像信号计算出的平均亮度值在阈值以下时判断为产生了反向偏转区域，从而截断设定值以上的影像信号的技术(例如参照专利文献2)；针对矩阵驱动方式的显示装置中的由横向电场导致的画质不良，仅对现象产生像素施加校正电压来改善画质不良的技术(例如参照专利文献3)，等等。

专利文献1：日本特开平6-34965号公报(图1)

专利文献2：日本特开2009-69608号公报(图2)

专利文献3：日本特开2009-237366号公报(图14)

然而，在专利文献1所公开的改进液晶面板的构造来减少反向偏转区域的技术中，存在开口率易于降低，另外，无法适用于未对构造进行改进的已经制作好的液晶面板的缺点。在如专利文献2所公开的剪切设定值以上的影像信号的技术中，也存在着待显示的图像的亮度受设定值所限的缺点。在如专利文献3所公开的技术中，需要进行如下顺序的处理：在一个帧期间内对输入到相邻的2个像素中的影像信号的电位差进行检测，在针对相邻的2个像素的输入影像信号存在电位差的情况下，基于2个像素之间的电位差、扫描方向尤其取向膜的蒸镀方向来选择成为校正对象的像素，利用2个像素之间的电位差以及基于与校正对象像素对应的输入影像信号的电位的校正量来校正驱动电压。

发明内容

本发明鉴于上述情形而完成，其目的之一在于，提供消除这些缺点，并且减少反向偏转区域的技术。

为了实现上述目的，本发明的影像处理方法，特征在于，按每个像素对指定液晶元件的施加电压的输入影像信号进行校正，并基于上述校正后的影像信号来分别规定上述液晶元件的施加电压，该影像处理方法具有：风险边界检测步骤，检测由上述液晶的偏转方位决定的风险边界，该风险边界是由输入影像信号指定的施加电压低于第1电压的第1像素与上述施加电压超过大于上述第1电压的第2电压的第2像素之间的边界的一部分；和校正步骤，在构成1帧的多个场的至少任意一个场中，对以下影像信号、即指定向对应于与上述风险边界检测步骤中检测到的风险边界相接的上述第1像素以及第2像素中的至少一方的液晶元件施加的施加电压的影像信号进行校正，以便使该风险边界在1帧期间内所存在的期间变短。

根据本发明，风险边界在1帧期间存在于相同位置的期间变短，抑制了液晶分子的取向不良状态持续的情形，因此能够预先避免由反向偏转区域所导致的显示上的问题的出现。另外，无需变更由液晶元件构成的液晶面板的构造，因此也不会导致开口率的降低，另外，还能够适用于未对构造进行改进的已经制作出的液晶面板。并且，由于基于是风险边界的相邻像素这样的条件来决定作为校正对象的像素，因此易于确定作为校正对象的像素，并且，也能够从较宽的范围选择可采用的影像信号的校正值。

另外，在本发明的影像处理方法中，也可以在上述校正步骤中，将指定对与上述风险边界检测步骤中检测到的风险边界相接的上述第1像素、或者从该第1像素向该风险边界的相反侧连续的r个与上述第1像素所对应的液晶元件施加的施加电压的影像信号，校正成在任意一个场中指定上述第1电压以上的电压的影像信号，其中，r为2以上的整数。