[发明专利]影像处理方法、影像处理电路、液晶显示装置以及电子设备有效
申请号: | 201210007587.X | 申请日: | 2012-01-11 |
公开(公告)号: | CN102622977A | 公开(公告)日: | 2012-08-01 |
发明(设计)人: | 保坂宏行;北川拓 | 申请(专利权)人: | 精工爱普生株式会社 |
主分类号: | G09G3/36 | 分类号: | G09G3/36;G02F1/133 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 李伟;王轶 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 影像 处理 方法 电路 液晶 显示装置 以及 电子设备 | ||
1.一种影像处理方法,特征在于,按每个像素对指定液晶元件的施加电压的输入影像信号进行校正,并基于上述校正后的影像信号来分别规定上述液晶元件的施加电压,该影像处理方法具有:
风险边界检测步骤,检测由上述液晶的偏转方位决定的风险边界,该风险边界是由输入影像信号指定的施加电压低于第1电压的第1像素与上述施加电压超过大于上述第1电压的第2电压的第2像素之间的边界的一部分;和
校正步骤,在构成1帧的多个场的至少任意一个场中,对以下影像信号、即指定向对应于与上述风险边界检测步骤中检测到的风险边界相接的上述第1像素以及第2像素中的至少一方的液晶元件施加的施加电压的影像信号进行校正,以便使该风险边界在1帧期间内所存在的期间变短。
2.根据权利要求1所述的影像处理方法,其特征在于,
在上述校正步骤中,
将指定对与上述风险边界检测步骤中检测到的风险边界相接的上述第1像素、或者从该第1像素向该风险边界的相反侧连续的r个与上述第1像素所对应的液晶元件施加的施加电压的影像信号,校正成在任意一个场中指定上述第1电压以上的电压的影像信号,其中,r为2以上的整数。
3.根据权利要求2所述的影像处理方法,其特征在于,
在上述校正步骤中,
将与作为校正对象的上述第1像素所对应的影像信号校正成最大灰度的影像信号。
4.根据权利要求1所述的影像处理方法,其特征在于,
在上述校正步骤中,
将指定对与上述风险边界检测步骤中检测到的风险边界相接的上述第2像素、或者从该第2像素向该风险边界的相反侧连续的s个与上述第2像素所对应的液晶元件施加的施加电压的影像信号,校正成在任意一个场中指定上述第2电压以下的电压的影像信号,其中,s为2以上的整数。
5.根据权利要求4所述的影像处理方法,其特征在于,
在上述校正步骤中,
将与作为校正对象的上述第2像素所对应的影像信号校正成最小灰度的影像信号。
6.根据权利要求1所述的影像处理方法,其特征在于,
在上述校正步骤中,
将指定对与上述风险边界检测步骤中检测到的风险边界相接的上述第1像素、或者从该第1像素向该风险边界的相反侧连续的r个与上述第1像素所对应的液晶元件施加的施加电压的影像信号,校正成在任意一个场中指定上述第1电压以上的电压的影像信号,其中,r为2以上的整数;
将指定对与上述检测到的风险边界相接的上述第2像素、或者从该第2像素向该风险边界的相反侧连续的s个与上述第2像素所对应的液晶元件施加的施加电压的影像信号,校正成在该场中指定上述第2电压以下的电压的影像信号,其中,s为2以上的整数。
7.根据权利要求1~6中的任意一项所述的影像处理方法,其特征在于,
具有移动检测步骤,在该移动检测步骤中,对上述第1像素与上述第2像素之间的边界中的、从前帧向当前帧变化的边界进行检测,其中,前帧是当前帧的前一帧,
在上述校正步骤中,
对由上述移动检测步骤中检测到的边界中的、在上述风险边界检测步骤中检测到的风险边界决定的校正对象的像素所对应的上述影像信号进行校正。
8.根据权利要求7所述的影像处理方法,其特征在于,
在上述校正步骤中,
对由上述移动检测步骤中检测到的边界中的、从前帧向当前帧移动了1个像素后的风险边界决定的校正对象的像素所对应的上述影像信号进行校正。
9.根据权利要求1~8中的任意一项所述的影像处理方法,其特征在于,
在上述校正步骤中,
在上述多个场的任意一个场中,不对与作为校正对象的像素对应的上述影像信号进行校正。
10.根据权利要求1~8中的任意一项所述的影像处理方法,其特征在于,
在上述校正步骤中,
针对上述多个场中的各个场,对与作为校正对象的像素对应的上述影像信号进行校正。
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