[发明专利]非易失闪存擦除异常存储块修复方法和装置有效

专利信息
申请号: 201210004631.1 申请日: 2012-01-09
公开(公告)号: CN102609334A 公开(公告)日: 2012-07-25
发明(设计)人: 周涛 申请(专利权)人: 晨星软件研发(深圳)有限公司;晨星半导体股份有限公司
主分类号: G06F11/14 分类号: G06F11/14
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人: 何青瓦
地址: 518000 广东省深圳市南山区高新*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 失闪 擦除 异常 存储 修复 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种非易失闪存擦除异常存储块修复方法,其特征在于,包括:

在读取非易失闪存中的数据时,扫描待读取的存储块中需要读取的数据所在页面的比特数据;

判断所述页面是否为擦除异常页面;

如果所述页面为擦除异常页面,则将所述页面中不为1的比特置1;以及

擦除所述待读取的存储块。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述扫描待读取的存储块中需要读取的数据所在的页面的比特数据的步骤中,从待读取的存储块中需要读取的数据所在的页面开始扫描所述页面的备用(spare)区域的比特数据。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述从待读取的存储块中需要读取的数据所在的页面开始扫描所述页面的备用区域的比特数据的步骤中,从所述备用区域的末尾开始往前扫描。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述从待读取的存储块中需要读取的数据所在的页面开始扫描所述页面的备用区域的比特数据的步骤之后还包括:

判断所述备用区域中的比特数据是否全为1;以及

如果所述备用区域中的比特数据全为1,则扫描所述页面的主(main)区域的比特数据,并执行所述判断所述页面是否为擦除异常页面的步骤。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述判断备用区域中的比特数据是否全为1的步骤之后还包括:

如果所述备用区域中的比特数据不全为1,则继续扫描下一个页面的备用区域的比特数据,直至扫描完所述待读取的存储块中需要读取的数据所在的所有页面。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述判断所述页面是否为擦除异常页面的步骤包括:

判断所述页面的主区域中的比特数据是否全为1;

如果所述页面的主区域中的比特数据不全为1,则判断出所述页面为擦除异常页面;以及

如果所述页面的主区域中的比特数据全为1,则判断出所述页面不为擦除异常页面。

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述判断所述页面是否为擦除异常页面的步骤之后还包括:

如果所述页面不为擦除异常页面,则继续扫描下一个页面的备用区域的比特数据,直至扫描完所述待读取的存储块中需要读取的数据所在的所有页面。

8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述擦除待读取的存储块的步骤包括:

擦除所述待读取的存储块;

判断擦除是否成功;

如果不成功,则再判断擦除次数是否超过预设的值;以及

如果擦除次数超过预设的值,则将所述存储块标记为坏块。

9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,所述判断擦除次数是否超过预设的值的步骤之后还包括:

如果擦除次数没有超过预设的值,则继续执行擦除所述待读取的存储块的步骤,直至擦除成功或者擦除次数超过预设的值。

10.一种非易失闪存擦除异常存储块修复装置,其特征在于,包括:

扫描模块,用于在读取非易失闪存中的数据时,扫描待读取的存储块中需要读取的数据所在页面的比特数据;

第一判断模块,耦接于所述扫描模块,用于判断所述页面是否为擦除异常页面;

比特设置模块,耦接于所述第一判断模块,用于当第一判断模块判断出所述页面为擦除异常页面时,则将所述页面的比特数据中不为1的比特置1;以及

擦除模块,耦接于所述比特设置模块,用于擦除所述待读取的存储块。

11.根据权利要求10所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:

第二判断模块,耦接于所述扫描模块,用于判断所述备用区域中的比特数据是否全为1。

12.根据权利要求11所述的装置,其特征在于,所述扫描模块包括:

第一扫描单元,用于扫描所述页面的备用区域的比特数据;以及

第二扫描单元,耦接于所述第一扫描单元,用于当第二判断模块判断出所述备用区域中的比特数据全为1时,扫描所述页面的主区域的比特数据。

13.根据权利要求12所述的装置,其特征在于,所述第一扫描单元在扫描时,从所述备用区域的末尾开始往前扫描。

14.根据权利要求13所述的装置,其特征在于,所述擦除模块包括:

擦除单元,用于擦除所述待读取的存储块;

第一判断单元,耦接于所述擦除单元,用于判断擦除是否成功;

第二判断单元,耦接于所述第一判断单元,用于当第一判断单元判断出擦除不成功时,再判断擦除次数是否超过预设的值;

标记单元,耦接于所述第二判断单元,用于当第二判断单元判断出擦除次数超过预设的值时,将所述存储块标记为坏块。

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