[发明专利]利用单个发光粒子的光的波长特性的光分析装置和光分析方法有效

专利信息
申请号: 201180057025.X 申请日: 2011-11-14
公开(公告)号: CN103229042A 公开(公告)日: 2013-07-31
发明(设计)人: 叶梨拓哉;田边哲也;山口光城 申请(专利权)人: 奥林巴斯株式会社
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;李茂家
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 利用 单个 发光 粒子 波长 特性 分析 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种光分析装置,其使用共焦显微镜或多光子显微镜的光学系统检测来自在样本溶液中分散且随机运动的发光粒子的光并进行分析,该光分析装置的特征在于,包括:

光检测区域移动部,其通过变更上述光学系统的光路,使上述光学系统的光检测区域的位置在上述样本溶液内移动;

光检测部,其检测来自上述光检测区域的光的多个波长频带的成分的强度;以及

信号处理部,其在一边使上述光检测区域的位置在上述样本溶液内移动一边由上述光检测部检测出的光的多个波长频带的成分的强度中个别检测来自各个上述发光粒子的光的信号,根据检测出的上述发光粒子的光的信号的多个波长频带的成分的强度来识别上述发光粒子的种类。

2.根据权利要求1所述的光分析装置,其特征在于,

上述信号处理部根据上述发光粒子的光的信号的多个波长频带的成分的强度之比来识别上述发光粒子的种类。

3.根据权利要求1所述的光分析装置,其特征在于,

上述光检测部检测来自上述光检测区域的光的两个波长频带的成分的强度,上述信号处理部根据上述两个波长频带的成分的强度之比来识别上述发光粒子的种类。

4.根据权利要求1所述的光分析装置,其特征在于,

还包括光照射部,该光照射部向上述光检测区域照射一个波长频带的激励光,上述发光粒子是通过上述一个波长频带的激励光的照射而发光的粒子,上述光检测部对通过上述一个波长频带的激励光的照射而发出的来自上述光检测区域的光的多个波长频带的成分的强度进行检测。

5.根据权利要求1所述的光分析装置,其特征在于,

上述信号处理部对个别检测出的上述发光粒子的光的信号的个数进行计数来对在上述光检测区域的位置移动过程中检测出的上述发光粒子的个数进行计数。

6.根据权利要求1至5中的任一项所述的光分析装置,其特征在于,

上述光检测区域移动部以比上述发光粒子的扩散移动速度快的速度移动上述光检测区域的位置。

7.一种光分析方法,其使用共焦显微镜或多光子显微镜的光学系统检测来自在样本溶液中分散且随机地运动的发光粒子的光并进行分析,该光分析方法的特征在于,包括以下步骤:

通过变更上述光学系统的光路来使上述光学系统的光检测区域的位置在上述样本溶液内移动;

一边使上述光检测区域的位置在上述样本溶液内移动一边检测来自上述光检测区域的光的多个波长频带的成分的强度;以及

在检测出的上述光的多个波长频带的成分的强度中个别检测来自各个上述发光粒子的光的信号,根据检测出的上述发光粒子的光的信号的多个波长频带的成分的强度来识别上述发光粒子的种类。

8.根据权利要求7所述的光分析方法,其特征在于,

根据上述发光粒子的光的信号的多个波长频带的成分的强度之比来识别上述发光粒子的种类。

9.根据权利要求7所述的光分析方法,其特征在于,

检测来自上述光检测区域的光的两个波长频带的成分的强度,根据上述两个波长频带的成分的强度之比来识别上述发光粒子的种类。

10.根据权利要求7所述的光分析方法,其特征在于,

还包括向上述光检测区域照射一个波长频带的激励光的步骤,其中,上述发光粒子是通过上述一个波长频带的激励光的照射而发光的粒子,对通过上述一个波长频带的激励光的照射而发出的来自上述光检测区域的光的多个波长频带的成分的强度进行检测。

11.根据权利要求7所述的光分析方法,其特征在于,

还包括以下步骤:对个别检测出的上述发光粒子的光的信号的个数进行计数来对在上述光检测区域的位置移动过程中检测出的上述发光粒子的个数进行计数。

12.根据权利要求7至11中的任一项所述的光分析方法,其特征在于,

在移动上述光检测区域的位置的步骤中,以比上述发光粒子的扩散移动速度快的速度移动上述光检测区域的位置。

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