[发明专利]充电构件及其生产方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种在电子照相设备中使用的充电构件及其生产方法。

背景技术

在使用接触充电系统的电子照相设备中，可能会发生因长期使用而使调色剂、调色剂中使用的外部添加剂、放电生成物、纸尘等附着至与电子照相感光构件接触设置的充电构件表面。然后，会发生其表面被该类物质污染的充电构件造成在电子照相感光构件上不均匀充电并进一步使电子照相图像包含由此类不均匀充电造成的条纹状缺陷(streaky defect)。

PTL1公开了一种通过溶胶-凝胶法形成的导电性有机-无机杂化膜，该膜由金属和/或半金属的醇盐和有机硅化合物组成且其中分散有导电性填料。然后，该PTL1指出该导电性有机-无机杂化膜因其对水有大的接触角而对调色剂有优异的剥离性。

引用文献

专利文献

PTL1：日本专利申请特开第2002-080785号公报

发明内容

发明要解决的问题

然而，本发明人经研究发现，近年来为了满足进一步改进电子照相设备运行性能的需要，必须研发具有更能避免调色剂等附着的表面的充电构件。

因此，本发明的目的是提供一种即使长期使用也不容易使任何调色剂等附着至其表面且长时间显示稳定的充电性能的充电构件，以及提供该充电构件的生产方法。

本发明的另一个目的是提供一种可长时间稳定形成高品质电子照相图像的电子照相设备。

用于解决问题的方案

根据本发明，提供一种充电构件，其包括基体；弹性层；和表面层；其中，所述表面层包含高分子化合物，所述高分子化合物具有：Si-O-B键；和下式(1)表示的结构单元和下式(2)表示的结构单元。

式(1)

式(2)

BO_3/2

在式(1)中，R₁和R₂各自独立地表示下式(3)至(6)表示的结构的任一种：

式(3)

式(4)

式(5)

式(6)

在式(3)至(6)中，R₃至R₇、R₁₀至R₁₄、R₁₉、R₂₀、R₂₅和R₂₆各自独立地表示氢原子、具有1至4个碳原子的烷基、羟基、羧基或氨基；R₈、R₉、R₁₅至R₁₈、R₂₃、R₂₄和R₂₉至R₃₂各自独立地表示氢原子或具有1至4个碳原子的烷基；R₂₁、R₂₂、R₂₇和R₂₈各自独立地表示氢原子、具有1至4个碳原子的烷氧基或烷基；n、m、l、q、s和t各自独立地表示1至8的整数，p和r各自独立地表示4至12的整数，x和y各自独立地表示0或1；星号*和双星号**各自表示分别与式(1)中的硅原子和氧原子键合的位置。

根据本发明，还提供一种用于生产上述充电构件的方法，所述方法包括以下步骤：

在所述弹性层上形成含有稍后所示的由式(11)表示的可水解化合物与稍后所示的式(12)表示的可水解化合物合成的水解缩合物的涂料的涂膜；和

使所述水解缩合物的环氧基开裂以进行所述水解缩合物的交联从而形成所述表面层。

根据本发明，进一步提供一种电子照相设备，其包括电子照相感光构件和与所述电子照相感光构件接触设置的充电构件。

发明的效果

根据本发明，可使充电构件具有充分低的表面自由能，并因此可提供一种避免任何调色剂等附着至其上且可长时间显示稳定的充电性能的充电构件。

根据本发明，还可提供一种可长时间形成高品质电子照相图像的电子照相设备。

附图说明

[图1]图1是显示本发明充电构件的实例的图。

[图2]图2是具有本发明充电构件的电子照相设备的结构示意图。