[发明专利]听觉测定装置及其方法有效

专利信息
申请号: 201180003133.9 申请日: 2011-06-02
公开(公告)号: CN102481122A 公开(公告)日: 2012-05-30
发明(设计)人: 伊藤元邦 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: A61B5/12 分类号: A61B5/12
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 黄剑锋
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 听觉 测定 装置 及其 方法
【说明书】:

技术领域

本发明涉及测定人的听觉的装置及其方法。

背景技术

目前,一般进行的听力障碍者的听觉特性的检查是基于听度计(audiometer)的听力等级(纯音可听阈值)的检查。在听力检查中,可针对每个频率了解听力障碍者的最小可听阈值。但是听力障碍的机理是复杂的,不仅是听力等级,而且产生补充现象,频率·时间掩蔽的增加等各种听觉特性的变化(参照非专利文献1)。

作为用于把握如上所述的听觉特性的变化的装置的一个例子,提出了推测与频率掩蔽的关联大的、听觉滤波器的形状的装置(参照专利文献1)。

在该装置中,利用附加了作为在频率轴上生成的无音部分的频隙(frequency gap)的掩蔽音(干扰音)和探测音(检查音),在设定掩蔽音和探测音的提示等级之后,一边慢慢地扩大频隙的宽度,一边观测是否听得见探测音,测定听得见探测音的最小的间隙宽度。接着,根据测定的频隙宽度的数值,利用变换式推测听觉滤波器的形状。

此外,作为另一例子,提出了测定频率掩蔽和时间掩蔽双方的装置(参照非专利文献2)。

在该装置中,利用附加了频隙或在时间轴上生成的作为无音部分的时隙中的一方或双方的掩蔽音和探测音,在设定掩蔽音的提示等级和频隙宽度及时隙宽度之后,一边将探测音的提示等级上下改变,一边观测是否听得见探测音,测定听得见探测音的最小的提示等级。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本专利第3741651号公报

非专利文献

非专利文献1:B.C.J Moore,“Cochlear hearing loss”,2nd ed.,John Wiley&Sons Ltd.,2007

非专利文献2:B.Larsby and S.Arlinger,“Auditory temporal and spectral resolution in normal and impaired hearing”,J.Am.Acad.,Audiol.,1999,vol.10,no.4,pp.198~210

非专利文献3:立木孝(主编),听觉检查的实际(修订2版),pp.62~67.2004年2月5日

发明概要

发明要解决的课题

但是,在专利文献1记载的技术中,由于基于仅仅着眼于频率掩蔽的近似曲线来推测,因此具有无法正确地把握个人差异大的掩蔽曲线的问题。

另外,如专利文献1中的频隙的宽度、非专利文献2中探测音的提示等级那样,仅对一个音响特性量进行调整并测定,因此只能测定掩蔽曲线中的一点。因此,具有下述的问题,即,为了提高推测的正确性,需要进行多个测定,对于受听者来说,从时间上和身体上都造成负担。

发明内容

本发明是为了解决上述课题而提出的,目的在于提供一种更加正确地在短时间内测定掩蔽曲线的听觉测定装置及其方法。

用于解决课题的手段

本发明的一个形式的听觉测定装置具备:测定音生成部,生成包含检查音和掩蔽音的测定音;测定音输出部,对上述受听者输出生成的上述测定音;察觉判断部,判断上述受听者是否察觉到上述检查音;以及调整部,在上述察觉判断部判断为察觉到上述检查音的情况下,向上述受听者不能察觉上述检查音的方向调整上述掩蔽音的频率特性量或上述掩蔽音的时间特性量或上述检查音的声压级中的至少1个音响特性量,在上述察觉判断部判断为未察觉到上述检查音的情况下,向上述受听者能够察觉上述检查音的方向调整至少1个上述音响特性量;在上述察觉判断部的判断结果不变化的情况下,上述调整部调整与紧前调整的上述音响特性量相同的音响特性量;在上述察觉判断部的判断结果变化的情况下,上述调整部调整在上述判断结果变化的紧前调整的上述音响特性量以外的音响特性量中的至少1个;上述测定音输出部输出由上述调整部调整上述音响特性量后的测定音;将上述察觉判断部的判断、上述调整部的上述音响特性量的调整、以及上述测定音输出部的测定音的输出反复进行多次,来测定听觉。

根据该结构,能够更加正确地在短时间内测定掩蔽曲线。

另外,本发明的听觉测定装置也可以是下述的结构:上述调整部调整的音响特性量是上述掩蔽音的频隙宽度以及上述掩蔽音的时隙宽度;在上述察觉判断部判断为察觉到上述检查音的情况下,上述调整部缩小上述时隙宽度;在上述察觉判断部判断为未察觉到上述检查音的情况下,上述调整部扩大上述频隙宽度。

根据该结构,能够更加正确地在短时间内测定掩蔽曲线。

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