[发明专利]挠性的电容式传感器数组

权利要求书

1.一种方法，其包括：

从一电容式传感器数组接收多个电容测量，其中所述多个电容测量包含至少一第一电容测量以及一第二电容测量；以及

根据在所述第一电容测量以及所述第二电容测量之间的一比较来检测所述电容式传感器数组的变形。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于：所述比较包括决定在所述第一电容测量以及所述第二电容测量之间的一比率。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于：所述比较包括决定在所述第一电容测量以及所述第二电容测量之间的一差异。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于：所述多个电容测量指出在所述电容式传感器数组的一表面的一接触的位置，并且其中所述第一电容测量对应于一第一传感器组件，所述第一传感器组件比对应于所述第二电容测量的一第二传感器组件更靠近所述接触。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于：至少两个传感器组件是位在对应于所述第二电容测量的一传感器组件以及对应于所述第一电容测量的一传感器组件之间。

6.如权利要求1所述的方法，其特征在于：所述第一电容测量的量值是所述多个电容测量中最大的量值。

7.如权利要求1所述的方法，其特征在于进一步包括根据所述第二电容测量的量值相对于其它电容测量的量值来选择所述第二电容测量。

8.如权利要求1所述的方法，其特征在于进一步包括根据在对应于所述第一电容测量的一第一传感器组件以及对应于所述第二电容测量的一第二传感器组件之间的一距离来选择所述第二电容测量。

9.如权利要求1所述的方法，其特征在于进一步包括：

当所述变形未被检测到时，根据所述多个电容测量来计算一触摸位置；

发送所述触摸位置；以及

响应于检测到所述变形，停止所述触摸位置的计算。

10.如权利要求9所述的方法，其特征在于进一步包括响应于检测到所述变形，发送一最后已知的触摸位置。

11.如权利要求9所述的方法，其特征在于：所述多个电容测量是在所述触控感测表面的一触摸后的一瞬时时间期间以及在所述瞬时时间期间后的一稳定的时间期间获得的，并且其中所述触摸位置的计算是根据在所述稳定的时间期间获得的所述多个电容测量的一子集合来加以执行。

12.如权利要求1所述的方法，其特征在于进一步包括，响应于检测到所述变形，根据所述检测到的变形的量值来计算一校正后的触摸位置。

13.如权利要求12所述的方法，其特征在于：计算所述校正后的触摸位置包括：

识别出一对应于所述检测到的变形的补偿轮廓，根据所述补偿轮廓来计算所述多个电容测量的每一个的一校正后的测量。

14.一种装置，其包括：

一电容式传感器输入，其被配置以从一电容式传感器数组接收多个电容测量，其中所述多个电容测量包含至少一第一电容测量以及一第二电容测量；以及

一处理单元，其是和所述电容式传感器输入耦合，其中所述处理单元被配置以根据一在所述第一电容测量以及所述第二电容测量之间的比较来检测所述电容式传感器数组的变形。

15.如权利要求14所述的装置，其特征在于：所述处理单元藉由计算在所述第一电容测量以及所述第二电容测量之间的一比率来执行所述比较。

16.如权利要求14所述的装置，其特征在于：所述第一电容测量的量值是所述多个电容测量中最大的量值。

17.如权利要求14所述的装置，其特征在于进一步包括和所述处理单元耦合的一查找表，其中所述查找表被配置以存储至少一补偿轮廓，并且其中所述处理单元进一步被配置以响应于检测到所述变形，根据所述至少一补偿轮廓来计算一校正后的触摸位置。

18.一种装置，其包括：

一传感器组件的数组；

一电容传感器，其和所述传感器组件的数组耦合，其中所述电容传感器被配置以从所述传感器组件的数组测量多个电容测量；

一处理逻辑，其和所述电容传感器耦合，其中所述处理逻辑被配置以根据所述多个电容测量来检测所述传感器组件的数组的变形。