[实用新型]一种用于PLC芯片切割用观测系统的照明结构

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种PLC芯片切割用观测设备，尤其涉及一种用于PLC芯片切割用观测系统的照明结构。

背景技术

最近几年因为国家大力扶持“三网融合”、“光纤到户”，从而使光通信行业迎来了新的景气周期。

PLC分路器的成本构成大约分三个阶段：芯片、光纤阵列、器件封装，而它们所占的成本大约为5∶3∶2。其中，PLC芯片的自主切割也是极其重要的一环。在芯片的切割过程中，芯片观测系统直接影响到切割效率，所以，有一个好的芯片观测系统可以大大提高芯片的切割效率。

现有切割机上自带观测系统的照明结构，仅包括垂直设置于待观测PLC芯片正上方的光源，该照明结构不能满足切割的要求，完全看不到芯片中的光波导或者很模糊，致使无法正常切割。

发明内容

本实用新型的目的在于克服现有技术的缺陷而提供一种用于PLC芯片切割用观测系统的照明结构，可以较易整改带光波导，且光波导较为清楚。

本实用新型的目的是这样实现的：

本实用新型的一种用于PLC芯片切割用观测系统的照明结构，包括垂直设置于待观测PLC芯片正上方的第一光源，所述照明结构还包括光放射装置、第二光源和第三光源，其中：

所述光放射装置设置于所述待观测PLC芯片的底部；

所述第二光源和第三光源分别设置于所述第一光源的左右两侧，且均相对于被检测PLC芯片以倾斜方式入射。

上述的一种用于PLC芯片切割用观测系统的照明结构，其中，所述光放射装置为反光玻璃。

本实用新型与现有技术相比，在待观测的PLC芯片底部装有一个光反射装置，芯片上方装有三个不同角度的光源，通过底部光反射装置的反射和三个不同方向光源的照射，可以比较容易的找出光波导，同时光波导也会比较清楚。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合附图对本实用新型作进一步说明。

请参阅图1，图中示出了本实用新型照明结构的示意图，该照明结构包括垂直设置于待观测PLC芯片2正上方的第一光源3，还包括光放射装置1、第二光源4和第三光源5，光放射装置1设置于待观测PLC芯片2的底部；第二光源4和第三光源5分别设置于第一光源3的左右两侧，且均相对于被检测PLC芯片2以倾斜方式入射。

上述照明结构中，光放射装置1为反光玻璃。

使用时，将待观测PLC芯片2放置在光放射装置1上，并处于第一光源3的正下方，开启第一光源3、第二光源4和第三光源4，三个光源均集中照射在待观测PLC芯片2上，同时结合通过光放射装置1对三个光源入射光的反射，可以比较容易的找出光波导，同时光波导也会比较清楚。

以上实施例仅供说明本实用新型之用，而非对本实用新型的限制，有关技术领域的技术人员，在不脱离本实用新型的精神和范围的情况下，还可以作出各种变换或变型，因此所有等同的技术方案也应该属于本实用新型的范畴，应由各权利要求所限定。