[实用新型]一种单片机IO口的状态选择电路有效
申请号: | 201120177792.1 | 申请日: | 2011-05-30 |
公开(公告)号: | CN202093346U | 公开(公告)日: | 2011-12-28 |
发明(设计)人: | 涂柏生;朱梓铧 | 申请(专利权)人: | 深圳市博巨兴实业发展有限公司 |
主分类号: | G05B19/042 | 分类号: | G05B19/042 |
代理公司: | 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 | 代理人: | 郭伟刚 |
地址: | 518083 广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 单片机 io 状态 选择 电路 | ||
技术领域
本实用新型涉及选择电路领域,尤其涉及一种单片机IO口的状态选择电路。
背景技术
在产品设计中,我们常会用到单片机的输入输出(IO)口来做状态选择判断,从而执行不同的程序内容。目前现有技术中都是利用单片机的IO口来识别高低电平两种状态,如果要识别大于2种状态,就必须增加IO口。如图1所示,将与单片机的IO口连接的IO_TEST脚设置为输入高阻态,如果S1的2、3导通,那么IO_TEST检测的为高电平,如果S1的1、2导通,那么IO_TEST检测的为低电平,这样就可以识别两种不同的状态,但是在实际设计应用中,我们往往不只有两种状态,如果有三种状态选择的话,按照目前的方法,那么就只能增加一个单片机IO口来实现,而增加一个IO口的成本较高。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题在于针对现有技术中通过增加单片机IO口来增加检测状态个数,成本较高的缺陷,提供一种不增加单片机IO口就可以提供三种状态选择的单片机IO口的状态选择电路。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:
提供一种单片机IO口的状态选择电路,包括IO检测端、电阻和单刀双掷开关,所述IO检测端与单片机的IO口和电阻的一端连接,所述电阻的另一端与所述单刀双掷开关的可动端连接,所述单刀双掷开关的两个不动端分别与高电平和地连接,该电路还包括用于充放电的储能单元,所述储能单元连接在所述单刀双掷开关的可动端和地之间。
本实用新型所述的单片机IO口的状态选择电路中,所述储能单元为电容。
本实用新型所述的单片机IO口的状态选择电路中,所述电阻为1千欧姆,所述电容的电容值为0.1微法。
使用本实用新型具有以下有益效果:通过在单刀双掷开关的可动端和地之间连接一储能单元,当单刀双掷开关的可动端与高电平连接时,为储能单元充电,储能单元的电平为高电平;当单刀双掷开关的可动端与地连接时,为储能单元放电,储能单元的电平为低电平;当单刀双掷开关的可动端悬空时,储能单元的电平取决于通过电阻为其充放电的IO检测端;本实用新型通过增加储能单元实现了单片机IO口的三种状态选择。
附图说明
下面将结合附图及实施例对本实用新型作进一步说明,附图中:
图1是现有技术单片机IO口的状态选择电路的结构示意图;
图2是本实用新型较佳实施例单片机IO口的状态选择电路的结构示意图。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。
在本实用新型的较佳实施例中,如图2所示,单片机IO口的状态选择电路包括IO检测端IO_TEST、电阻R1和单刀双掷开关S1,IO检测端IO_TEST与单片机的IO口和电阻R1的一端连接,电阻R1的另一端与单刀双掷开关S1的可动端2连接,单刀双掷开关S1的两个不动端,分别与高电平和地连接,图2中,单刀双掷开关S1的两个不动端分别为不动端1和不动端3,本实用新型较佳实施例中不动端3与高电平连接,不动端1与地连接;当然在其他实施例中不动端3也可以与地连接,相应地不动端1与高电平连接。
如图2所示,该电路还包括用于充放电的储能单元,储能单元连接在单刀双掷开关S1的可动端2和地之间,储能单元可选用电容C3。当单刀双掷开关S1的可动端2与不动端3连接时,即可动端2与高电平连接,充电一段时间后,电容C3电平为高电平;当单刀双掷开关S1的可动端2与不动端1连接时,即可动端2与地连接,电容C3放电,电容C3的电平为低电平;当单刀双掷开关S1的可动端2悬空时,电容C3的电平取决于通过电阻为其充放电的IO检测端;这样IO检测端IO_TEST就可以有三种状态,实现了单片机IO口的三种状态选择。
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