[实用新型]可测较高密度之治具结构无效
| 申请号: | 201120154488.5 | 申请日: | 2011-05-16 |
| 公开(公告)号: | CN202102057U | 公开(公告)日: | 2012-01-04 |
| 发明(设计)人: | 林鸿霖 | 申请(专利权)人: | 顺探实业股份有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R1/067 |
| 代理公司: | 东莞市中正知识产权事务所 44231 | 代理人: | 鲁慧波 |
| 地址: | 中国台湾台北县*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 可测较 高密度 结构 | ||
【权利要求书】:
1.一种可测较高密度之治具结构,其特征在于,包括:
一待测板,该待测板上设有低密度与高密度待测点;
一上治具,该上治具一侧设有低密度探针,一侧设有高密度探针;
一万用治具,该万用治具上设有复数探针,其下设有与电脑连接进行测试的导线;
一转接治具,该转接治具一侧开设定位孔,一侧上层设有高密度探针以结合上治具之高密度探针,其下设导线以连接低密度探针,且低密度探针与万用治具之探针相结合。
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