[实用新型]一种大功率白光LED温度特性测量实验装置无效
申请号: | 201120103132.9 | 申请日: | 2011-04-08 |
公开(公告)号: | CN202101835U | 公开(公告)日: | 2012-01-04 |
发明(设计)人: | 陈国杰;李斌;张路英;周有平;乐培界 | 申请(专利权)人: | 佛山科学技术学院;杭州精科仪器有限公司 |
主分类号: | G01M11/00 | 分类号: | G01M11/00 |
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地址: | 528000 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 大功率 白光 led 温度 特性 测量 实验 装置 | ||
技术领域
本实用新型属于大功率白光LED实验装置,更具体地说,它属于高等院校关于大功率白光LED温度特性研究与测量的实验装置。
背景技术
大功率白光LED以其发光效率高、寿命长、环保等优点,被广泛用于照明和显示等领域。但是,大功率白光LED在工作过程中产生大量的热,其PN结温的上升使发光效率降低、光谱红移、寿命缩短。可见,温度是影响大功率LED应用的重要因素。因此,测量温度对LED电流、电压、光强分布、发光效率等光电参数在科研、生产和高等院校教学中具有重要的应用价值。目前国内高等院校只有测量普通LED电特性(伏安特性)的实验装置,未见有测量与研究LED特别是大功率白光LED光电特性随温度变化的实验装置。
发明内容
本实用新型的目的是为了克服现有技术的不足,提供一种能进行大功率白光LED温度特性测量与研究的实验装置。
本实用新型的技术问题通过以下技术方案予以实现:
一种大功率白光LED温度特性测量实验装置,包括实验箱底板,所述实验箱底板的一端安装着大功率白光LED加热/致冷装置总成,另一端对应安装着光强探测器总成。
作为本实用新型的进一步改进,所述大功率白光LED加热/致冷装置总成固定在LED发光角度调节盘总成的表盘表面;所述大功率白光LED加热/致冷装置总成与所述光强探测器总成之间还设有暗筒,且三者处于一轴线上。
作为本实用新型的进一步改进,所述暗筒的一端设有可旋入暗筒固定座中的螺纹端口,另一端为所述光强探测器总成的插入口。
作为本实用新型的进一步改进,所述大功率白光LED加热/致冷装置总成中设有半导体加热/致冷芯片;所述半导体加热/致冷芯片的一端紧贴散热器,另一端紧贴传导铝棒;所述传导铝棒的另一端面凹槽处设有温度传感器,端面的顶部固定着所述大功率白光LED。
作为本实用新型的进一步改进,所述大功率白光LED处在角度调节盘表面的圆心位置,角度调节盘连同大功率白光LED加热/致冷装置总成角度调节范围为0度~±90度。
作为本实用新型的进一步改进,所述传导铝棒的外面套有绝缘套。
作为本实用新型的进一步改进,所述光强探测器总成内安装有集成可见光亮度传感器及放大电路板。
作为本实用新型的进一步改进,所述实验箱底板上还设有温度传感器插座、半导体加热/致冷芯片电源插座和光强探测器插座。
本实用新型的实验装置配合电源、电参数测量仪和温度控制仪,可进行普通LED和大功率白光LED的温度特性测量与研究。
由于采用上述技术方案,本实用新型具有如下有益效果:
1、采用半导体加热/致冷芯片对LED进行0℃~70℃光电特性测量,克服了其它测量装置只能测量在室温或高于室温情况下测量LED特性的局限。装置结构简单、紧凑,不需要体积大的恒温箱或制冷设备,减少设备投资、节约能源;
2、光电特性测量采用人眼仿真的可见光亮度传感器作为光强探测器,代替市面上传统的光强测量仪用滤光片组合形成人眼视觉函数的光强探测器,不但降低了成本,并且测量非线性小,重复性好。
3、除了测量LED在恒流驱动下的温度特性,还能测量传统仪器所不具备的LED恒压驱动下的温度特性;
4、测量物理量多、方便、准确。
附图说明
图1是本实用新型的总结构图;
图2是大功率白光LED加热/致冷装置总成结构图;
图3是图2的左视图。
图中:风扇1 固定螺钉2 散热器3 半导体加热/致冷芯片4 压板5绝缘套6 传导铝棒7 温度传感器8 大功率白光LED9 风扇、LED电源及温度传感器插座10 半导体加热/致冷芯片电源插座11 光强探测器插座12 实验箱底板13 放大电路板14 可见光亮度传感器15 暗筒16 暗筒固定块17 大功率白光LED加热/致冷装置总成30 LED发光角度调节盘总成40 光强探测器总成50。
具体实施方式
下面结合附图与具体实施方式对本实用新型作进一步详细描述:
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