[实用新型]评估LED的光学性能的设备有效

专利信息
申请号: 201120035786.2 申请日: 2011-02-09
公开(公告)号: CN202119615U 公开(公告)日: 2012-01-18
发明(设计)人: 孙宗洛;朴一雨 申请(专利权)人: 三星LED株式会社
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人: 韩明星;李娜娜
地址: 韩国京畿*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要:
搜索关键词: 评估 led 光学 性能 设备
【权利要求书】:

1.一种光学性能评估设备,其特征在于所述光学性能评估设备包括:

光转换滤光器,将要被评估的LED芯片或者裸LED封装件发射的光转换为不同波长的光,并且发射特定颜色的光;

光学性能测量单元,接收光转换滤光器发射的特定颜色的光并测量所接收的光的光学性能。

2.如权利要求1所述的光学性能评估设备,其特征在于光转换滤光器发射的特定颜色的光包括白光。

3.如权利要求1所述的光学性能评估设备,其特征在于光转换滤光器包括磷光体滤光器,所述磷光体滤光器将LED芯片或者裸LED封装件发射的光转换为不同波长的光并发射特定颜色的光。

4.如权利要求3所述的光学性能评估设备,其特征在于所述磷光体滤光器包括透明基板和形成在透明基板上的磷光体层。

5.如权利要求3所述的光学性能评估设备,其特征在于所述磷光体滤光器包括磷光体板或磷光体膜。

6.如权利要求1所述的光学性能评估设备,其特征在于所述光转换滤光器设置在光学性能测量单元的光接收区域的附近,以接收特定颜色的光。

7.如权利要求1所述的光学性能评估设备,其特征在于所述光转换滤光器设置成邻近于LED芯片或者裸LED封装件的发光表面。

8.如权利要求1所述的光学性能评估设备,其特征在于所述光学性能评估设备还包括电压施加单元,所述电压施加单元将驱动电压施加到要被评估的LED芯片或者裸LED封装件。

9.如权利要求1所述的光学性能评估设备,其特征在于光学性能评估设备还包括光聚集单元,所述光聚集单元将LED芯片或裸LED封装件发射的光或者光转换滤光器发射的光引导到光学性能测量单元的光接收区域中。

10.如权利要求9所述的光学性能评估设备,其特征在于所述光聚集单元包括集光球、筒型光聚集器和棒型光聚集器中的一种。

11.如权利要求10所述的光学性能评估设备,其特征在于所述集光球具有用来接收光的入口,并且光转换滤光器设置在所述入口处。

12.如权利要求10所述的光学性能评估设备,其特征在于所述集光球具 有用来将光传输到光学性能测量单元的光接收区域的出口,并且光转换滤光器设置在所述出口处。

13.如权利要求1所述的光学性能评估设备,其特征在于所述光学性能测量单元包括测量光转换滤光器发射的特定颜色的光的光量的光电二极管传感器和测量光转换滤光器发射的特定颜色的光的光谱的光谱仪。

14.如权利要求1所述的光学性能评估设备,其特征在于所述光学性能测量单元测量光转换滤光器发射的特定颜色的光的色度。

15.如权利要求1所述的光学性能评估设备,其特征在于所述光学性能测量单元包括测量光转换滤光器发射的特定颜色的光的光谱的光谱仪和从光谱仪获得的光谱信息计算出色度的计算单元。 

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