[发明专利]一种减少太阳能电池死层的方法有效
申请号: | 201110460084.3 | 申请日: | 2011-12-31 |
公开(公告)号: | CN103367521A | 公开(公告)日: | 2013-10-23 |
发明(设计)人: | 王英超;李高非;崔景光 | 申请(专利权)人: | 英利能源(中国)有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 逯长明 |
地址: | 071051 河*** | 国省代码: | 河北;13 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 减少 太阳能电池 方法 | ||
技术领域
本发明涉及半导体加工技术领域,更具体地说,涉及一种多晶硅片的生产方法。
背景技术
晶硅太阳能电池已经被大规模应用到各个领域,其良好的稳定性和成熟的工艺流程是其大规模应用的基础。目前,太阳能电池的制造工艺已经基本规范化,请参考附图1,其主要处理流程为:硅片经过清洗及制绒,使得原本光亮的硅片表面变的凹凸不平,增大了硅片对光的吸收率;经过高温扩散,将P型硅基体上掺入N型杂质,从而形成P/N结;再通过等离子刻蚀和去磷硅玻璃将硅片的侧面和背面的氧化层去除;通过PECVD在硅片的扩散面沉积一层SiNx薄膜,减少硅片对入射光的反射;印制背电极、背电场和正面电极,烧结使电极与硅片形成合金结构,最后对硅片进行电性能测试并分档,最后包装入库。其中,第二步扩散工艺是生产过程中最重要的环节,P/N结的好与坏直接决定了电池的性能和转换效率,所以怎样在扩散过程中形成良好的是我们研究的重点。
太阳能电池的心脏是一个P/N结,不能简单地用两块不同类型(p型和n型)的半导体接触在一起就能形成的。要制造一个P/N结,必须使一块完整的半导体晶体的一部分是P型区域,另一部分是N型区域。也就是在晶体内部实现P型和N型半导体的接触。N+/P晶硅太阳能电池的发射区N+是由磷扩散形成的高浓度浅结区域,我们知道在这种扩散区中,由于电不活泼(即电中性)的磷原子处于晶格间隙位置会引起晶格缺陷,同时由于磷、硅的原子半径不匹配,高浓度的磷还会造成晶格失配。所以在晶硅太阳能电池表层中少数载流子的寿命极低,表层吸收的短波光子所产生的光生载流子对电池的光输出贡献甚微,此表层称为“死层”。为了减少“死层”的影响,提高电池的光谱响应,我们可以降低表面扩散的浓度、把结深做浅,但是这样做工艺难度会增大且串联电阻会增加,导致转换效率降低。
请参考图2,现有的太阳能电池扩散工艺过程为:进舟,将装满硅片的石英舟放入到扩散炉指定位置;升温,在扩散炉里进行加热,使硅片达到需要的温度;前净化,为了保证炉管内的清洁度,需要通一定量的氮气和氧气;沉积工艺,将三氯化磷与氧气一起通到高温的扩散炉中反应,然后其主要的产物五氧化磷与硅反应,最后生成的单质磷扩散到晶体硅中,形成PN结;后净化,在炉门打开前通入大量氮气对炉管进行吹扫;降温,扩散结束后需要把温度降到初始温度;出舟,将装满硅片的石英舟取出。虽然在沉积之前的前净化步骤中通一定量的氧气,使P型硅衬底表面生成一层薄氧化层,以达到对浅结和减少“死层”的作用。但是,沉积前的前净化步骤中的氧化膜的厚度不好控制,如果太厚会影响PN结的形成,进而影响效率;太薄会降低减少死层的效果,为了保证一个好的P/N结一般前净化的氧化层的厚度都会很薄,所以降低了减少死层的作用。
综上所述,如何保证好的P/N结的同时减少太阳能电池死层,以提高电池的光谱响应,成为目前本领域技术人员亟待解决的问题。
发明内容
有鉴于此,本发明提供了一种减少太阳能电池死层的方法,以提高电池的光谱响应。
为了达到上述目的,本发明提供如下技术方案:
一种减少太阳能电池死层的方法,包括步骤:
1)进舟,将装满硅片的石英舟放进扩散炉指定位置;
2)升温,使硅片从初始温度加热到扩散温度;
3)前净化,向扩散炉内通入氮气和氧气;
4)沉积,在硅片表面形成PN结;
5)后净化,向扩散炉内通入氮气;
6)降温,扩散结束后将硅片的温度降到初始温度;
7)出舟,将石英舟从扩散炉中取出;
还包括在步骤4)和步骤5)之间或与步骤5)同时进行的步骤41)后氧化,以预设流量在预设温度下通预设时间的氧气。
优选地,上述的减少太阳能电池死层的方法中,所述预设温度为810-870度。
优选地,上述的减少太阳能电池死层的方法中,所述预设流量为500-1000sccm,预设时间为5-20分钟。
优选地,上述的减少太阳能电池死层的方法中,所述氧气为干氧或湿氧。
优选地,上述的减少太阳能电池死层的方法中所述扩散温度为850度。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于英利能源(中国)有限公司,未经英利能源(中国)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110460084.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的