[发明专利]一种检测摆组件摆动对称性的装置及方法有效

专利信息
申请号: 201110456701.2 申请日: 2011-12-31
公开(公告)号: CN102539834A 公开(公告)日: 2012-07-04
发明(设计)人: 张兰;杨守安;彭福英;于湘涛;顾英;郭琳瑞;周峰 申请(专利权)人: 航天科工惯性技术有限公司
主分类号: G01P21/00 分类号: G01P21/00
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摘要:
搜索关键词: 一种 检测 组件 摆动 对称性 装置 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种检测摆组件摆动对称性的装置及方法,具体涉及一种检测摆组件摆动对称性的装置及方法,属于加速度计检测技术领域。

背景技术

加速度计一般由表芯和加表电路组成,其中加速度计表芯是加速度计的核心部件,摆组件摆动对称性检测是加速度计表芯装配工序的一个重要环节,这一环节把得严、把得住能大大提高加速度计装配的成品率。所以摆组件摆动对称性的检测尤为重要,而提高加速度计表芯装配质量的检测手段是此环节的关键所在。

现有技术不能对摆组件摆动对称性进行检测,使得问题表无法剔除,整个加速度计装配完成后由于表芯装配过程中摆组件摆动不对称导致整表报废的占10%以上。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术不足,提供一种能检测摆组件摆动对称性的装置和方法,填补加速度计检测技术中的一个空白。

本发明的技术解决方案:一种检测摆组件摆动对称性的装置,包括摆动对称性检测模块、加表电路和电源,其中摆动对称性检测模块包括若干个电容C1~Cn、第一开关K1和第二开关K2,电容C1~Cn的一端连接后接地,另一端分别与第二开关K2的若干个常开触点连接,第二开关K2的常闭触点与第一开关K1常闭触点相连,开关K1的两个常开触点分别与待检表芯中的上下镀金膜板连接,加表电路与待检表芯连接,电源给加表电路供电,若干个电容C1~Cn按照电容量从大到小或从小到大的顺序排列,电容C1~Cn的电容量取值为待检表芯初始电容量的0.5~2倍,相邻两电容之间的差值为8pF~12pF,n≥4。

一种检测摆组件摆动对称性的方法,通过以下步骤实现:

第一步,制作检测摆组件摆动对称性的装置;

第二步,将待检表芯接入摆组件摆动对称性的装置上,开关K1的两个常开触点分别与待检表芯中的上下镀金膜板连接,待检表芯与加表电路连接,电源供电;

第三步,开关K1不闭合,加表电路检测得到待检表芯的初始电压V0

第四步,令i=1;

第五步,开关K2闭合电容Ci,分别闭合开关K1的两个常开触点,加表电路检测得到待检表芯的上电压Vis和下电压Vix

第六步,将第五步得到的上电压Vis和下电压Vix分别与第三步得到的初始电压V0做差,得到上电压差ΔVis和下电压差ΔVix

第七步,若满足|ΔVis-ΔVix|≤1mV,转入第八步,若不满足|ΔVis-ΔVix|≤1mV,转入第十步;

第八步,若i<n,令i=i+1,转入第五步,若i=n,转入第九步,n为电容总数;

第九步,分别对第五步得到上电压Vis和下电压Vix进行判断,i=1,2,…n,判断标准为:

若上电压V1s,V2s,…Vns的变化趋势与电容C1,C2,…Cn的变化趋势负相关且下电压V1x,V2x,…Vnx的变化趋势与电容C1,C2,…Cn的变化趋势正相关,则判断待检表芯摆组件的摆动对称性合格,换上另一待检表芯,转入第二步,否则转入第十步;

第十步,待检表芯摆组件的摆动对称性不合格,换上另一待检表芯,转入第二步。

本发明与现有技术相比的有益效果:

(1)本发明弥补了石英挠性加速度计表芯装配质量的检测手段中的一个技术空白,使摆组件摆动对称性检测成为可能,保证加速度计装配质量检测的及时性;

(2)使用本发明后在表芯装配过程中就将摆组件摆动不对称的表芯提前剔除,节约了成本,提高了加速度计装配的成品率;

(3)本发明装置和方法简单,使用方便,不仅保证了加速度计装配质量检测的及时性,同时提高了生产效率;

(4)本发明通过大量试验和理论研究,确定了电容的选取标准,使摆组件摆动对称性判断更为准确、直观。

附图说明

图1为本发明装置电气结构示意图(四个电容为例);

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