[发明专利]一种检测摆组件摆动对称性的装置及方法有效
申请号: | 201110456701.2 | 申请日: | 2011-12-31 |
公开(公告)号: | CN102539834A | 公开(公告)日: | 2012-07-04 |
发明(设计)人: | 张兰;杨守安;彭福英;于湘涛;顾英;郭琳瑞;周峰 | 申请(专利权)人: | 航天科工惯性技术有限公司 |
主分类号: | G01P21/00 | 分类号: | G01P21/00 |
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地址: | 100070 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 检测 组件 摆动 对称性 装置 方法 | ||
1.一种检测摆组件摆动对称性的装置,其特征在于:包括摆动对称性检测模块、加表电路和电源,其中所述的摆动对称性检测模块包括若干个电容Cl~Cn、第一开关K1和第二开关K2,电容Cl~Cn的一端连接后接地,另一端分别与第二开关K2的若干个常开触点连接,第二开关K2的常闭触点与第一开关K1常闭触点相连,开关K1的两个常开触点分别与待检表芯中的上下镀金膜板连接,加表电路与待检表芯连接,电源给加表电路供电,若干个电容Cl~Cn按照电容量从大到小或从小到大的顺序排列,电容Cl~Cn的电容量取值为待检表芯初始电容量的0.5~2倍,相邻两电容之间的差值为8pF~12pF,n≥4。
2.一种检测摆组件摆动对称性的方法,其特征在于通过以下步骤实现:
第一步,制作如权利要求1所述的检测摆组件摆动对称性的装置;
第二步,将待检表芯接入摆组件摆动对称性的装置上,开关K1的两个常开触点分别与待检表芯中的上下镀金膜板连接,待检表芯与加表电路连接,电源供电;
第三步,开关K1不闭合,加表电路检测得到待检表芯的初始电压V0;
第四步,令i=1;
第五步,开关K2闭合电容Ci,分别闭合开关K1的两个常开触点,加表电路检测得到待检表芯的上电压Vis和下电压Vix;
第六步,将第五步得到的上电压Vis和下电压Vix分别与第三步得到的初始电压V0做差,得到上电压差ΔVis和下电压差ΔVix;
第七步,若满足|ΔVis-ΔVix|≤1mV,转入第八步,若不满足|ΔVis-ΔVix|≤1mV,转入第十步;
第八步,若i<n,令i=i+1,转入第五步,若i=n,转入第九步,n为电容总数;
第九步,分别对第五步得到上电压Vis和下电压Vix进行判断,i=1,2,…n,判断标准为:
若上电压V1s,V2s,…Vns的变化趋势与电容C1,C2,…Cn的变化趋势负相关且下电压V1x,V2x,…Vnx的变化趋势与电容C1,C2,…Cn的变化趋势正相关,则判断待检表芯摆组件的摆动对称性合格,换上另一待检表芯,转入第二步,否则转入第十步;
第十步,待检表芯摆组件的摆动对称性不合格,换上另一待检表芯,转入第二步。
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