[发明专利]阵列基板及液晶显示器有效
申请号: | 201110425121.7 | 申请日: | 2011-12-16 |
公开(公告)号: | CN102629039A | 公开(公告)日: | 2012-08-08 |
发明(设计)人: | 金玟秀 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;合肥京东方光电科技有限公司 |
主分类号: | G02F1/1343 | 分类号: | G02F1/1343;G02F1/1362 |
代理公司: | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 阵列 液晶显示器 | ||
技术领域
本发明涉及液晶显示领域,尤其涉及一种阵列基板及液晶显示器。
背景技术
边缘场开关模式(Fringe Field Switching,FFS)是一种广视角技术,利用公共电极与像素电极间产生的边缘电场来驱动液晶,在宽视角的前提下,实现了高的透过率。
现有技术中采用FFS模式的一种显示器的阵列基板结构如图1所,自下而上依次包括:信号线16、公共电极12、第一绝缘层13和像素电极层14。其中,像素电极层14包括若干像素电极11,另外,设置在公共电极12之下的信号线16,通过第二绝缘层15与公共电极12隔开。
在上述结构中,发明人发现现有技术至少存在如下问题:
如图1所示,现有技术中像素电极的间距A一般为6微米或8微米,当驱动液晶显示时,如图2所示,邻近的两个像素电极11之间会发生电性干涉现象,这两个邻近像素电极11分别带有异种电荷,而同一像素电极的不同部分带有同种电荷,这样在像素电极与邻近像素电极之间会产生水平电场17,而水平电场17会影响液晶分子的转动,使得液晶显示器透过率降低,特别是在每个像素电极边缘的透过率降低。如图2中透过率曲线18所示,在受水平电场17影响的区域即像素电极的边缘和邻近像素电极的边缘,出现透过率降低的现象。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于提供一种阵列基板及液晶显示器,能提高液晶显示器的透过率。
为达到上述目的,本发明的实施例采用如下技术方案:
一种阵列基板,包括:公共电极、像素电极层和设置在所述公共电极、像素电极层之间的第一绝缘层,所述像素电极层包括若干像素电极,所述像素电极的间距至少为10微米。
本发明实施例所述间距小于等于18微米。
优选地,本发明实施例所述间距为12微米。
进一步地,该阵列基板,还包括:设置在所述公共电极下侧的信号线,所述信号线通过第二绝缘层与所述公共电极隔开。
所述公共电极的材质与所述像素电极的材质均为透明导电材料。
所述公共电极与所述像素电极层之间的间距为0.1微米至0.6微米。
本发明的实施例还提供一种液晶显示器,包括:本发明所述的阵列基板。
本发明实施例中的阵列基板及液晶显示器,像素电极的间距设置为至少10微米,较现有技术变大,降低了因电性干涉产生的水平电场的影响,使得像素电极边缘的透过率提高,从而提高了整个液晶显示器的透过率。
附图说明
图1为现有技术中阵列基板的结构示意图;
图2为现有技术中像素电极边缘透过率降低的示意图;
图3为本发明实施例一中阵列基板的结构示意图一;
图4为本发明实施例一中像素电极层的俯视示意图;
图5为本发明实施例像素电极间距为6微米至18微米时的透过率示意图;
图6为本发明实施例一中阵列基板的结构示意图二。
附图标记:
11-像素电极,12-公共电极,13-第一绝缘层,14-像素电极层,
15-第二绝缘层,16-信号线,17-水平电场,18-透过率曲线。
具体实施方式
本发明实施例提供一种阵列基板及液晶显示器,可提高像素电极边缘的透过率,从而提高液晶显示器的整体透过率。
下面结合附图对本发明实施例进行详细描述。此处所描述的具体实施方式仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
实施例一
本发明实施例提供一种阵列基板,如图3所示,该阵列基板包括:公共电极12、像素电极层14和设置在所述公共电极12、像素电极层14之间的第一绝缘层13,所述像素电极层14包括若干像素电极11,所述像素电极11的间距至少为10微米。
本实施例中像素电极11的具体构成图形不同,图3所示的像素电极11包括相距4微米的三部分,每一部分的宽度为2微米。像素电极11的具体图形并不影响本发明的实际效果。
本实施例所述像素电极11的间距指某一像素电极边缘到与之相邻的下一像素电极边缘的距离,如图3中所示的间距A。
本实施例所述像素电极11的间距,指图4中所示的像素电极11的纵向间距或横向间距,图中所示信号线16包括纵向的数据线和横向的栅线。
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