[发明专利]测量装置

权利要求书

1.一种测量装置，包括有支架及滑动架，其特征在于：所述支架及滑动架设有用以测量高度的刻度线，所述滑动架滑动固定在所述支架中，所述测量装置还包括有固定结构及驱动结构，所述固定结构包括有固定件及设在所述固定件上的弹性件，所述驱动结构包括有把手及固定在所述把手上的齿轮，所述驱动结构转动固定在所述支架上，所述齿轮在相对所述支架转动的过程中驱使所述滑动架相对所述支架滑动，所述固定件固定在所述支架上，所述弹性件固定在所述支架与所述滑动架之间，防止所述滑动架相对所述支架滑动。

2.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于：所述支架包括有底座、顶板、后板及两相对的第一侧板及第二侧板，所述顶板、所述后板、所述第一侧板及所述第二侧板形成供所述滑动架滑动的滑动空间。

3.如权利要求2所述的测量装置，其特征在于：所述滑动架包括有顶壁、后壁、与所述后壁相对的前壁、及两相对的第一侧壁及第二侧壁，所述第一侧壁朝向所述第一侧板，所述第二侧壁朝向所述第二侧板，所述后壁朝向所述后板，所述顶壁设有供所述滑动架插入所述滑动空间及供所述滑动架滑动的开口。

4.如权利要求3所述的测量装置，其特征在于：所述前壁设有开槽，所述开槽中设有卡齿，齿轮收容在第一侧板及所述第二侧板之间，所述齿轮设有轮齿，所述轮齿与所述卡齿咬合在一起。

5.如权利要求3所述的测量装置，其特征在于：所述后板及第二侧板设有第一刻度线，所述后壁及第二侧壁设有第二刻度线，所述第一刻度线的刻度值自所述底座向上逐渐增大，所述第二刻度线的刻度值自所述底座向上逐渐减小。

6.如权利要求5所述的测量装置，其特征在于：所述第一刻度线具有一最大刻度值，所述第二刻度线具有一最小刻度值，所述最大刻度值等于所述最小刻度值。

7.如权利要求6所述的测量装置，其特征在于：所述底座包括一用以与一测量面相抵靠的下表面，所述第二侧板、所述后板及所述底座的下表面相互垂直，所述下表面、所述第二侧板与所述后板的相交点为所述第一刻度线的原点，且所述顶板到所述测量面的距离等于所述第一刻度线的最大刻度值。

8.如权利要求6所述的测量装置，其特征在于：所述最大刻度值为100厘米。

9.如权利要求3所述的测量装置，其特征在于：当所述滑动架完全收容在所述支架中时，所述顶壁与所述顶板处于同一平面上。

10.如权利要求3所述的测量装置，其特征在于：所述固定结构固定在所述第一侧板上，所述第一侧壁设有滑槽，所述弹性件一端收容在所述滑槽中，另一端固定在所述固定件上。