[发明专利]基于IEC61850的数字式测控装置同步性能测试方法

权利要求书

1.一种基于IEC61850的数字式测控装置同步性能测试方法，其特征是，通过改变数字式继电保护测试仪输出的各间隔采样值通道中的样本计数器，使不同的合并单元同时输出不同采样计数器序号的值，检查测控装置显示采样值与输出值对应与否来判断其同步性能；如果对应，则同步性能正确；如果不对应，则同步性能不正确。

2.如权利要求1所述的基于IEC61850的数字式测控装置同步性能测试方法，其特征是，具体过程为：设某间隔采样值通道的计数器序号为x1，另一间隔采样值通道的计数器序号为x1+n，1≤n≤3999，根据智能变电站目前采样频率为4000，因此采样间隔为1s/4000＝250μs；各采样值均为频率为50Hz的正弦波，因此每毫秒角度为360°/20ms＝18°，在采样计数器相差为(x1-x1+n)的情况下，两个间隔对应的角差为：Δφ理论＝(x1-x1+n)*250μs*18°/1000，查看测控装置两个间隔对应实际角差为：Δφ实际，若Δφ理论＝Δφ实际，则测控装置同步性能测试正确，反之，测控装置同步性能不正确。