[发明专利]温控器测试装置及其对温控器校正测试、老化测试方法有效
申请号: | 201110391456.1 | 申请日: | 2011-11-30 |
公开(公告)号: | CN102520712A | 公开(公告)日: | 2012-06-27 |
发明(设计)人: | 罗宇强;梁旭明;王芳;赖顺桥;邓向明;翁纪钊;程在学 | 申请(专利权)人: | 广州市光机电技术研究院 |
主分类号: | G05B23/02 | 分类号: | G05B23/02 |
代理公司: | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人: | 黄磊 |
地址: | 510663 *** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 温控 测试 装置 及其 校正 老化 方法 | ||
1.一种温控器测试装置,包括外壳箱体,设置在外壳箱体内的环状空气浴恒温装置,设置在环状空气浴恒温装置顶部的带风门的快速降温上盖装置,以及单片机控制系统,其特征在于,所述环状空气浴恒温装置是一个圆柱状环形腔体,各部分以轴对称方式分布在圆心周围;所述单片机控制系统控制在不同工作状态下风门的打开或关闭。
2.根据权利要求1所述的温控器测试装置,其特征在于,所述环状空气浴恒温装置包括以轴对称方式分布在圆心周围的环形外腔体(9)、环形样品腔(4)、涡流风扇(5)、加热源(8)、支架(7)、温度传感器(10)以及电机(1);所述加热源(8)置于内环中心处,向外依次设有是涡流风扇(5)和环形样品腔(4),最外环是环形外腔体(9);涡流风扇(5)、加热源(8)以及电机(1)安装固定在支架(7)上。
3.根据权利要求2所述的温控器测试装置,其特征在于,待测工件和温度传感器均匀分布在样环形品腔(4)的同心圆周上。
4.根据权利要求1所述温控器测试装置,其特征在于,所述带风门的快速降温上盖装置包括上盖外壳(6),设置在上盖外壳(6)中部的圆形风口(15)、风门及其开关机构(14),设置在带风门的快速降温上盖装置两侧的排风扇(13、16)。
5.根据权利要求4所述温控器测试装置,其特征在于,所述上盖外壳(6)上设有进风排孔(12)。
6.根据权利要求3所述的温控测试装置,其特征在于,所述带风门的快速降温上盖装置采用掀盖式结构。
7.根据权利要求1所述的温控器测试装置,其特征在于,所述单片机控制系统包括单片机,以及分别与单片机连接的A/D转换模块、8路样品开关状态检测模块、加热源控制模块、涡流风扇控制模块、电机控制模块、风门开关控制模块、排风扇控制模块、LED数码管温度显示模块、8路样品状态指示灯控制模块及计算机通讯模块,所述A/D转换模块连有温度传感器。
8.一种温控器测试装置的校正测试方法,其特征在于,包括下述步骤:
将待测样品温控器安装在样品腔工件安装板上,将带正负极电线的夹子夹住温控器的正负极板,盖好带风门的快速降温上盖装置;
做测试时,启动、登陆计算机温控器测试软件,设置测试模式、温度范围,点击开始启动测试,温控器测试装置进入自动工作状态,升温时,启动加热源,涡流风扇高速旋转,热气流在环形腔体内环形循环,通过控制加热源加热时间控制升温速度,温度到达温控器设定的接通温度,温控器两触点接通,显示屏显示接通时温度,指示灯指示温控器接通,记录该温度;
降温时,控制加热源停止加热时间控制降温速度,涡流风扇匀速旋转,热气流在环形腔体内环形循环,温度达到温控器设定断开温度,温控器两触点断开,显示屏显示断开时温度,指示灯指示温控器断开,并记录该温度;
通过温控器测试装置测试并记录温控器的接通和断开温度,将所测数据与温控器送检设定的接通和断开温度比较是否相符来判断样品质量。
9.一种温控器测试装置的温控器老化测试方法,其特征在于,包括下述步骤:
启动温控器测试装置,进入自动工作状态;
升温时,加热源一直加热,涡流风扇高速旋转,迅速降温,热气流环形循环至温控器设定的接通温度,温控器两触点接通,显示屏显示接通时温度,记录该温度;
降温时,加热源停止加热,涡流风扇匀速旋转,设置在上盖外壳上的风门打开,带风门的快速降温上盖装置两侧面送排风扇启动,迅速降温,热气流环形循环至温控器设定的断开温度,温控器两触点断开,显示屏显示断开时温度,并记录该温度;
重复上述升温降温步骤,不断循环进行测试,直到达到温控器老化测试要求。
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