[发明专利]一种测试DDR3数据有效窗口的方法和装置

权利要求书

1.一种测试DDR3数据有效窗口的方法，其特征在于，所述方法包括：计算DDR3的数据有效窗口大小，根据窗口大小设置读数据采样时钟的相位，记录P_min和P_max；其中，所述P_min为数据匹配采样时钟最小相位；所述P_max为数据匹配采样时钟最大相位。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：

1.向DDR3内存段存储区域预写数据；

2.设置读采样时钟初始值；

3.回读比较数据，判断所述回读比较数据是否与写入的数据格式一致，根据判断的结果分别记录P_min和P_max。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述DDR3内存读写操作以burst为单位，所述步骤1中预写的数据块的数目至少为一个burst。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述步骤2中调整相位初始值的方式为自动调整或手动调整。

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述DDR3数据的窗口大小按照如下公式进行计算：(P_max-P_min)×5ns，其中，采样时钟频率为200MHz。

6.一种测试DDR3数据有效窗口的装置，其特征在于，所述装置包括：预写-预读比较单元，所述预写-预读比较单元基于预写-预读比较的方式，计算出DDR3的数据有效窗口大小，根据窗口大小设置读数据采样时钟的相位，记录P_min和P_max；其中，所述P_min为数据匹配采样时钟最小相位；所述P_max为数据匹配采样时钟最大相位。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述预写-预读比较单元包括：依次连接的数据预写入模块、采样时钟设置模块和相位记录模块；

所述数据写入模块用于向DDR3内存某段存储区域预写数据；

所述采样时钟设置模块用于设置读采样时钟初始值；

所述相位记录模块用于回读比较数据，判断所述回读比较数据是否与写入的数据格式一致，根据判断的结果分别记录P_min和P_max。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述预写-预读比较单元以burst为单位对DDR3内存进行读写操作。

9.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述采样时钟设置模块调整相位初始值的方式为自动或手动。