[发明专利]分析可通过氢化反应生成氢化物气体的痕量元素的方法

权利要求书

1.一种分析可通过氢化反应生成氢化物气体的痕量元素的方法，其特征在于：采用ICP光谱仪分析，该ICP光谱仪的进样系统所使用的雾化室为在常规雾化室上增加一个氢化反应物入口，该雾化室设置有雾化器插孔、氢化反应物入口、炬管接口和废液口，进样系统所使用的雾化器插入该雾化室的雾化器插孔中；该方法具体步骤如下：

(1)通过第一蠕动泵将一部分试样溶液泵送至雾化器中，在载气作用下于雾化室中形成雾状颗粒；

(2)通过第二蠕动泵将另一部分试样溶液泵送至氢化物气体发生器中，同时通过第三蠕动泵将硼氢化钾溶液泵送至氢化物发生器中，在氢化物气体发生器中试样溶液与硼氢化钾溶液发生氢化反应从而生成氢化物气体，生成的氢化物气体经过氢化反应物入口进入雾化室，随后该氢化物气体和雾状颗粒经过炬管接口一同进入炬管到等离子体火焰中激发，即可测得稳定的光谱强度，从而同时测量出各种常规含量的元素和可通过氢化反应生成氢化物气体的痕量元素的含量。

2.根据权利要求1的分析可通过氢化反应生成氢化物气体的痕量元素的方法，所述可通过氢化反应生成氢化物气体的痕量元素为砷、锡和锑。