[发明专利]一种基于显微成像的聚合物平面波导光学参数测量仪有效

专利信息
申请号: 201110347385.5 申请日: 2011-11-03
公开(公告)号: CN102426093A 公开(公告)日: 2012-04-25
发明(设计)人: 张斗国;陈漪恺;王向贤;傅强;王沛;明海 申请(专利权)人: 中国科学技术大学
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 李新华;成金玉
地址: 230026 安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 显微 成像 聚合物 平面 波导 光学 参数 测量仪
【权利要求书】:

1.一种基于显微成像的聚合物平面波导光学参数测量仪,其特征在于:该测量仪包括:激光光源(1),偏振元件组,扩束透镜组(4),反射镜(5),高数值孔径油浸显微物镜(6),折射率匹配油(7),平面波导,分束镜(11),聚束透镜组(12)和CCD图像传感器(13);

所述的偏振元件组,是由起偏器(2)及1/2波片(3)组成的偏振元件组,用于改变激光的偏振方向;

所述的平面波导,是由玻璃基底(8),金属薄膜(9),聚合物薄膜(10)以及上方空气层构成的四层结构,金属薄膜(9)蒸镀或溅射在玻璃基底(8)上,聚合物薄膜(10)旋涂在金属薄膜(9)上;

所述的激光光源(1)所发射激光,通过偏振元件组后,形成线偏振光;通过扩束透镜组(4)扩束后经反射镜(5)、高数值孔径油浸显微物镜(6),折射率匹配油(7),以宽角度范围辐照在玻璃基底(8)与金属薄膜(9)的界面,在某些特定角度下,激发传输于平面波导中的导波模式,简称导模,这些角度与后焦面光学像上的暗弧一一对应;与其相应的入射光能量转化为导模光场能量,而其他角度的光束大部分被平面波导反射回来,反射光经高数值孔径油浸显微物镜(6)收集,再经分束镜(11)及聚束透镜组(12)成像于CCD图像传感器(13),CCD图像传感器(13)记录下高数值孔径油浸显微物镜(6)后焦面上的反射光场光学像,通过读取所成像中的暗弧位置及半径,计算出所激发的各种导模的有效折射率。

2.根据权利要求1所述的一种基于显微成像的聚合物平面波导光学参数测量仪,其特征在于,所述的激光光源(1)通过扩束后,覆盖整个高数值孔径油浸显微物镜(6)的入瞳;可实现宽角度范围照射平面波导,从而同时激发能传输于平面波导中的各种导模。

3.根据权利要求1所述的一种基于显微成像的聚合物平面波导光学参数测量仪,其特征在于,利用高数值孔径油浸显微物镜(6)获得高空间分辨率,实现微区测量;同时利用同一高数值孔径油浸显微物镜(6)实现入射光聚焦激发导模以及反射光的收集成像,简化了仪器结构。

4.根据权利要求1所述的一种基于显微成像的聚合物平面波导光学参数测量仪,其特征在于,通过旋转1/2波片(3),可以控制高数值孔径油浸显微物镜(6)后焦面光学像中的暗弧方向,以判断所激发的各种导模的偏振状态。

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