[发明专利]超材料单元结构体设计方法和装置有效

专利信息
申请号: 201110341174.0 申请日: 2011-11-02
公开(公告)号: CN103093015A 公开(公告)日: 2013-05-08
发明(设计)人: 刘若鹏;季春霖;刘斌 申请(专利权)人: 深圳光启高等理工研究院
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 广州三环专利代理有限公司 44202 代理人: 郝传鑫;熊永强
地址: 518057 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 材料 单元 结构 设计 方法 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及超材料领域,尤其涉及一种超材料单元结构体设计方法和装置。

背景技术

超材料技术是一个前沿性交叉科技,其设计的技术领域包括了电磁、微波、太赫兹、光子、先进的工程设计体系、通信、半导体等范畴。其核心思想是利用复杂的人造微结构设计与加工实现人造“原子”以对电磁场或者声纳进行响应。其核心理论是描述电磁波轨迹与超材料特性的变形光学。该技术的一大核心难点在于如何建模设计成千上万个相互不同的人造复杂微结构并按照合理的排布组成一个具有特殊功能性的超材料器件。这对建模、计算、理论分析、设计、调试都带来了极大的困难。

在超材料设计领域,由于超材料单元结构的复杂响应和实验设计采样点有限,故传统参数模型难以拟合其响应曲面,无法实现精确的建模,造成了超材料自动化设计的瓶颈。

由于超材料所提供的特殊功能,这都是取决于它异常复杂的单元结构,一种超材料可能包含多个结构参数Pi,其电磁响应参数同样是多维,每改变一个结构参数Pi都将改变其最终的电磁响应特性,如何寻找超材料单元结构体的最佳结构参数,使它的电磁响应特性符合超材料的电磁响应的目标特性,是全球科研人员一直在努力探索的。

传统的超材料单元结构体设计方法是,通过手动的逐一的改变单元结构体的结构参数,测试某一频率的电磁波通过该结构体后的响应特性,并与目标的响应特性进行对比,如此不断循环,最终找到与目标电磁响应特性最为相近的单元结构体属性参数。

如图1所示,通过手动的逐一的改变单元结构体属性参数,测试某一频率的电磁波通过该结构体后的响应特性,并与目标响应特性进行对比,直至找到与目标电磁响应特性最为相近的单元结构体属性参数为止。

由图1可看出调整单元结构体参数是一项非常耗时的步骤,为了达到超材料设计的超高要求和特殊的电磁响应特性,单元结构体参数的微调单位可能达到毫米级,甚至微米级、纳米级,其工作量可想而知。

如要设计某一频率fi下某种电磁响应的超材料单元结构体,该电磁响应特性可能是二维曲线的,也可能是多维曲面或多维空间,其电磁响应特性函数简单表示为G(a,b,c,…),同时超材料的单元结构参数也是多维的,如:长、宽、厚度、介电常数、材料材质等,表示为Pi,其中i表示参数的个数。要设计符合响应特性函数G的超材料单元结构体的具体设计步骤如下所述:

第一步:根据经验设置某单元结构的属性参数Pi

第二步:使用某一频率fi测试该单元结构体的电磁响应特性函数G′;

第三步:比较其电磁响应函数G′与目标电磁响应函数G是否相近;

第四步:逐步调整单元结构体属性参数Pi,直到其电磁响应函数G′与目标电磁响应函数G相同或相近为止。

如图2所示,为一维电磁响应函数图,在频率为fi时,其电磁响应为Gi,超材料的目的正是通过设计某种特殊的单元结构体,使电磁波通过该材料时,出现相同的目标电磁响应特性,简单来说就是,通过调整单元结构体的属性参数寻找最接近电磁响应特性Gi的过程。

发明内容

本发明实施例所要解决的技术问题在于,提供一种超材料单元结构体设计方法和装置。可以提高超材料单元结构体设计的效率。

为了解决上述技术问题,本发明实施例提供了一种超材料单元结构体设计方法,包括:

a、获得超材料单元结构体的初始样本,并以所述初始样本为母本,所述初始样本包括体现超材料单元结构体的结构的多个结构参数;

b、改变所述母本中的一个或多个结构参数值,获得N个转移样本,N为自然数;

c、获得所述N个转移样本所表示的超材料单元结构体的电磁响应特性分别与目标样本所表示的超材料单元结构体的电磁响应特性相比的距离;

d、根据所述距离对所述N个转移样本进行排序,获得所述距离最小的n个转移样本,n为小于N的自然数;

e、判断所述n个转移样本中是否有符合目标超材料单元结构体设计要求的样本,若有则确定该符合目标超材料单元结构体设计要求的样本为设计样本,否则,以所述n个转移样本中的一个或多个为母本重复步骤b~e,直到确定符合目标超材料单元结构体设计要求的样本为设计样本。

相应地,本发明实施例还提供了一种超材料单元结构体设计装置,包括:

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳光启高等理工研究院,未经深圳光启高等理工研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110341174.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top