[发明专利]检测喷墨图像生成系统中缺失的喷墨器的系统和方法有效
申请号: | 201110333165.7 | 申请日: | 2011-10-14 |
公开(公告)号: | CN102529445A | 公开(公告)日: | 2012-07-04 |
发明(设计)人: | 吴文成;埃杜尔·N·达拉勒 | 申请(专利权)人: | 施乐公司 |
主分类号: | B41J29/00 | 分类号: | B41J29/00;B41J2/175 |
代理公司: | 上海胜康律师事务所 31263 | 代理人: | 李献忠 |
地址: | 美国康*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 喷墨 图像 生成 系统 缺失 方法 | ||
技术领域
本发明一般涉及使用从印刷头中的喷墨器喷出的墨生成印刷图像的设备,尤其是识别印刷头中有缺陷的喷墨器的所述成像设备。
背景技术
在公知成像系统中缺失的喷墨器和功能不佳的喷墨器的检测需要印刷测试图案。然后通过图像扫描仪扫描印刷的测试图案以生成图案的图像数据。然后参照用于印刷所述图案的测试图案数据,分析这些图像数据以检测预期出现墨、但是在图案的图像数据中未检测到的区域。虽然这些系统中的一些有效地识别喷墨器的缺失,但是它们需要印刷测试图案用于分析。印刷测试图案打断了系统为系统所有者生产图像的可用性。在卷筒印刷系统中,测试图案可在印刷作业的页面之间印刷,但测试图案必须从卷筒中删除,使得客户可以使用在卷筒上印刷的文档。无需图像内容知识,能够由客户生成的图像上检测缺失的喷墨器将是有益的。
发明内容
研发了一种由客户生成的文档的图像数据检测缺失的喷墨器而无需文档内容的先验知识的方法。所述方法包括:运行至少一个印刷头以喷射墨到图像接收构件上,形成墨图像,所述墨图像与用于运行所述至少一个印刷头的图像数据对应;由墨图像和图像接收构件反射光到被线性地设置在支撑构件上的两个以上的光传感器,生成在图像接收构件上的墨图像的数字图像,支撑构件横向于图像接收构件在处理方向上的移动;将数字图像分为两个以上的段;针对两个以上的光传感器中每一个光传感器,在每个段中生成在处理方向上的廓形(profile);由针对段生成的廓形检测所述段中的光条;以及参照两个以上的光传感器中光传感器的位置,识别每一个检测到的光条处的缺失的喷墨器的位置。
根据本发明的一实施方式,每一个廓形生成进一步包括:平均在所述数字图像的段中生成数字数据的每一个光传感器在处理方向上的传感器值的预定数量,针对在段中生成数字数据的每一个光传感器的所述传感器值平均数形成段的廓形。
根据本发明的一实施方式,每一个光条检测进一步包括:通过对在横向-处理方向上的所述廓形内的所述传感器值应用高通滤波器,生成廓形的两个以上的过滤的传感器值;以及响应于超过预定阈值的所述两个以上的过滤的传感器值中的过滤的传感器值,识别与所述廓形中至少一个过滤的传感器值相对应的光条。
研发了一种实施由客户生成的文档的图像数据检测缺失的喷墨器而无需文档内容的先验知识的方法的系统。所述方法包括:图像接收构件,在图像接收构件上形成墨图像,墨图像与用于在图像接收构件上形成墨图像的图像数据对应;两个以上的光传感器,其被线性地设置在支撑构件上,支撑构件横向于图像接收构件在处理方向上的移动,光传感器被配置用于从由墨图像和图像接收构件反射的光生成在图像接收构件上的墨图像的数字图像;处理器,其可操作地连接到两个以上的光传感器,处理器被配置为将数字图像分为两个以上的段,针对两个以上的光传感器中每一个光传感器,在数字图像的每个段中生成在处理方向上的廓形,由针对段所生成的廓形检测所述段中的光条,以及参照两个以上的光传感器中光传感器的位置,识别每一个检测到的光条处的缺失的喷墨器的位置。
根据本发明的一实施方式,所述处理器被配置为转换所述数字图像为红色、绿色、蓝色中的一个以及亮度-色度数字图像。
根据本发明的一实施方式,其中所述处理器被配置为通过对在处理方向上传感器值的预定数量求平均值来生成每一个廓形,从而生成用于生成段的数字数据的每一个光传感器的平均传感器值。
根据本发明的一实施方式,其中所述处理器被配置为通过识别廓形中在横向-处理方向上的连续平均传感器值的预定数量的平均横向-处理传感器值,比较所述平均横向-处理传感器值和在横向-处理方向上连续平均传感器值的所述预定数量的每一个末端处的平均传感器值,以及响应于大于连续平均传感器值的所述预定数量的每一个末端处的所述平均传感器值的所述平均横向-处理传感器值由至少预定数量来检测段内的光条,从而检测每一光条。
根据本发明的一实施方式,其中所述处理器被配置为通过生成从连续平均传感器值的所述预定数量的至少一个末端延伸的连续平均传感器值的第二预定数量的第二平均横向-处理传感器值,以及比较所述平均横向-处理传感器值和所述第二横向-处理传感器平均值,来对所述平均横向-处理传感器值和连续平均传感器值的所述预定数量的每一个末端处的平均传感器值进行比较。
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