[发明专利]影像测量系统及方法无效

专利信息
申请号: 201110304464.8 申请日: 2011-10-10
公开(公告)号: CN103033128A 公开(公告)日: 2013-04-10
发明(设计)人: 张旨光;袁忠奎;邹志军;佘正才;薛晓光 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 影像 测量 系统 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种影像处理系统及方法,尤其涉及一种影像测量系统及方法。

背景技术

在测量工件时,客户往往需要对较大的工件进行表面评估,这时,工作人员只能用光学影像测量仪在工件表面进行局部地评估,浪费大量的时间和人力,工作效率低。

发明内容

鉴于以上内容,有必要提供一种影像测量系统,可以对工件的拼接图片上的元素进行测量。

还有必要提供一种影像测量方法,可以对工件的拼接图片上的元素进行测量。

一种影像测量系统,该系统包括:读取模块,用于从数据库中读取一张由多张影像拼接成的拼接图片及该拼接图片的信息,该拼接图片的信息包括拼接图片上每个像素点的尺寸;选择模块,用于接收用户选取的待测区域,并确定该待测区域的中心点及与该待测区域有重叠部分的影像;确定模块,用于根据所述拼接图片的信息确定所述待测区域的中心点与每张有重叠部分的影像的中心点之间的像素点个数;计算模块,用于根据上述确定的待测区域的中心点与每张有重叠部分的影像的中心点之间的像素点个数以及拼接图片上每个像素点的尺寸,计算所述待测区域的中心点的坐标值;接收模块,用于接收用户选择的测量工具和需要测量的元素;及执行模块,用于分别确定组成所述需要测量的元素的每个像素点与该待测区域的中心点之间的像素点个数,并根据该像素点个数、每个像素点的尺寸以及该待测区域中心点的坐标值计算组成该需要测量的元素的所有点的坐标值。

一种影像测量方法,该方法包括:读取步骤,从数据库中读取一张由多张影像拼接成的拼接图片及该拼接图片的信息,该拼接图片的信息包括拼接图片上每个像素点的尺寸;选择步骤,接收用户选取的待测区域,并确定该待测区域的中心点及与该待测区域有重叠部分的影像;确定步骤,根据所述拼接图片的信息确定所述待测区域的中心点与每张有重叠部分的影像的中心点之间的像素点个数;计算步骤,根据上述确定的待测区域的中心点与每张有重叠部分的影像的中心点之间的像素点个数以及拼接图片上每个像素点的尺寸,计算所述待测区域的中心点的坐标值;接收步骤,接收用户选择的测量工具和需要测量的元素;及执行步骤,分别确定组成所述需要测量的元素的每个像素点与该待测区域的中心点之间的像素点个数,并根据该像素点个数、每个像素点的尺寸以及该待测区域中心点的坐标值计算组成该需要测量的元素的所有点的坐标值。

相较于现有技术,所述影像测量系统及方法,不需要测量机台的辅助,根据待测工件的影像拼接而成的图片即可测量用户选择的待测元素。

附图说明

图1是本发明影像测量系统较佳实施例的运行环境示意图。

图2是图1中影像测量系统10的功能模块图。

图3是本发明影像测量方法较佳实施例的作业流程图。

图4是本发明中拼接图片示意图。

主要元件符号说明

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