[发明专利]一种数控机床在机检测测头及检测系统有效
申请号: | 201110303424.1 | 申请日: | 2011-10-10 |
公开(公告)号: | CN102501136A | 公开(公告)日: | 2012-06-20 |
发明(设计)人: | 李斌;刘红奇;李沨;毛新勇;彭芳瑜;毛宽民 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | B23Q17/00 | 分类号: | B23Q17/00;G05B19/404 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 李智 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 数控机床 检测 系统 | ||
1.一种数控机床在机检测测头,包括测杆和用于引导测杆作竖直直线运动的导向机构,测杆顶部设有弹性复位机构,其特征在于,靠近测杆处设有直线位移传感器。
2.应用上述测头的在机检测系统,包括依次电连接的测头、信号采集电路和控制中心,测头触发后,数控系统根据触发信号锁存测量点坐标,信号采集电路对采集到的点坐标作信号预处理后传送给控制中心,其特征在于,所述控制中心包括模型解释模块、路径规划模块、数据通信模块、误差补偿模块、数据处理模块和专家库系统模块;
所述模型解释模块用于提取工件模型的几何特征,实时接收来自误差补偿模块的检测点坐标;
所述路径规划模块用于依据工件模型的几何特征规划检测路径,并将其转换为机床检测程序;
所述数据通信模块用于将机床检测程序传送给数控系统,将来自数控系统的检测点坐标反馈给误差补偿模块;
所述误差补偿模块用于对检测点坐标进行误差补偿;
所述数据处理模块用于对补偿后的检测点坐标进行分析或者查询专家库系统模块中的历史检测信息得到工件的加工状态;
所述专家库系统模块用于记录历史检测信息。
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