[发明专利]给电装置、给电方法和给电系统

说明书

技术领域

本公开涉及以非接触方式对诸如移动电话等的电子装置充电的给电装置、给电方法和给电系统。

背景技术

近年来，已经将许多关注投入于称作非接触式给电装置或无线给电装置的给电装置，该给电装置通过电磁感应、磁共振等以非接触方式向诸如移动电话、便携式音乐播放器等的消费者电子产品(CE，Consumer Electronics)提供电力。根据非接触式给电方案，诸如交流(AC)适配器之类的电源装置的连接器并不需要插入或连接到CE装置以便对CE装置充电。相反，CE装置在被放置在托架型非接触式给电装置(例如，也称作充电托架)上时开始简单地充电，。结果，在CE装置与给电装置之间不需要物理的终端连接。

由于CE装置在被放置在充电托架时开始简单地充电，因此CE装置的用户在对CE装置充电时会承受较少负担。然而，利用充电托架的一个问题是在充电托架上可能容易地放置除了待充电的CE装置以外的物体，例如，诸如硬币等的外来物(下文中称作“外来金属”)。当在充电托架上放置外来金属时，该外来金属往往会被充电托架加热。

已经提出了各种方式来检测充电托架上的外来金属，以便如果该外来金属被放置在充电托架上则停止充电托架的充电过程。例如，按照一种建议，使用温度传感器来检测放置在充电托架上的物体的温度，并且如果检测到异常的温度上升则将该物体确定为外来物(例如，参见日本专利待审No.2008-172874)(下文中称作专利文献1)。按照另一种建议，以预定的模式改变充电托架上的负载以便检测超载(例如，参见日本专利待审No.2002-34169)(下文中称作专利文献2)。

发明内容

按照专利文献1中描述的过程，由于物体是基于其温度上升而被确定为外来物，因此无法阻止该外来物自身被加热。因此，所公开的过程不能提供一种根本的解决方案来解决外来物加热的问题。按照专利文献2中公开的过程，难以精确地确定负载变化是否由CE装置或外来金属造成。尽管如上所述在现有技术中已经提出了用于检测外来物的各种过程，但是已经需要一种合并有新的外来物检测器的给电装置，其完全不同于以前已经提出的过程。

因此，人们期望提供一种给电装置、给电方法和给电系统，其精确地检测不同于将被供应电力的物体的外来物，用以当通过磁场给物体供应电力时阻止外来物不当过热。

按照本公开的实施例，提供了一种给电装置，包括：送电部件，用于通过磁场来输送电力；相互间隔的至少一组第一和第二电极；电源，用于在所述第一和第二电极之间施加电压；和检测器，用于基于所述电源施加的电压来检测在所述送电部件上是否存在外来物。所述外来物是指一种物体，例如金属物体，其不同于诸如从送电部件将被供应电力的电子装置之类的物体。

按照本公开的实施例，也提供了一种给电方法，包括：通过磁场从送电部件输送电力；和在相互间隔的至少一组第一和第二电极之间施加电压，以便检测在所述送电部件上是否存在外来物。

按照本公开的实施例，也提供了一种给电系统，包括：至少一个电子装置；和给电装置，用于将电力输送到所述至少一个电子装置。

当在第一和第二电极之间施加电压时，如果跨越第一和第二电极而放置外来物，则这会导致第一和第二电极之间的短路或电容性耦合。因此，基于在第一和第二电极之间发生的短路或电容性耦合，可以检测跨越第一和第二电极而放置的外来物。

具体地，当在第一和第二电极之间造成短路或电容性耦合时，会改变诸如第一和第二电极之间的阻抗、电流或电压之类的参数。将参数的改变与预设的阈值相比较来检测外来物。因此可以精确地检测不同于例如从送电部件将被供应电力的电子装置之类的物体的外来物。一旦检测到外来物，就停止或降低从送电部件供应电力，以便阻止外来物不当过热。

附图说明

图1是按照本公开实施例的给电系统的充电托架和移动电话的透视图；

图2是图1中所示的充电托架的平面图；

图3是图1中所示的充电托架的横截面图；

图4是图1中所示的充电托架和移动电话的功能方框图；

图5A和图5B是图示检测外来金属的过程的视图，图5A是示出在充电托架的上表面上放置物体的方式的视图；以及图5B是示出参数变化与阈值之间的关系的视图；

图6是按照比较示例的电极图案的平面图；