[发明专利]压电式触摸屏的线性测试方法无效
申请号: | 201110296885.0 | 申请日: | 2011-09-27 |
公开(公告)号: | CN102331880A | 公开(公告)日: | 2012-01-25 |
发明(设计)人: | 黄良杰;杜秀兰;陈伟 | 申请(专利权)人: | 利信光学(苏州)有限公司 |
主分类号: | G06F3/041 | 分类号: | G06F3/041;G06F11/22 |
代理公司: | 南京苏科专利代理有限责任公司 32102 | 代理人: | 陈忠辉 |
地址: | 215129 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 压电 触摸屏 线性 测试 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种触控产品测试方法,尤其涉及一种压电式触摸屏进行快速线性测试方法。
背景技术
触控面板的问世日渐取代了传统按钮、按键、开关等物理器件,成为一种新颖的电气操控手段。而近年来触控面板发展迅猛,基于电阻、电容、压电等特性制成的触控面板层出不穷,其中尤以压电式触摸屏的应用最为广泛。现代人生活周围充满了各种电子产品,诸如手机、电脑、PDA等,这些电子产品许多都设有触摸屏作为手写输入或点选输入的介面装置,尤其在手写输入时随着字体比划的移动,对电脑而言需要一种能输入连续坐标点的触摸屏,或者在其它需要使用触摸屏作为大量按键输入或需以线性方式输入的触摸屏装置。
从压电式触摸屏的制造工艺来看,该触摸屏的传统测试方法为使用线性测试机进行横纵测试的方法,即沿X轴向&Y轴向将触摸屏分为若干等分,再沿着X/Y向若干条线一一进行测试,根据测试结果判定触摸屏的品质程度。然而显而易见的是:该种测试方法存在测试工艺复杂,耗费工时较长,从而影响触摸屏生产制造的整体效率。
发明内容
鉴于上述现有技术存在的缺陷,本发明的目的是提出一种压电式触摸屏的线性测试方法,以求简化测试流程,加速测试效率。
本发明的目的,将通过以下技术方案得以实现:
压电式触摸屏的线性测试方法,所述压电式触摸屏包括上层具有N条X轴向布线X1~XN的ITO薄膜及下层具有M条Y轴向布线Y1~YM的ITO玻璃,两层布线垂直交错形成M×N个节点,其特征在于:所述压电式触摸屏外接测试用电脑主机,
以单边滑压X轴向布线测试Y轴向布线的连通性,其中先以手写笔滑压使X1与Y1~YM间的各节点压着接触,节点受压产生的信号输出至电脑主机,再以手写笔滑压使XN与Y1~YM间的各节点压着接触,节点受压产生的信号也输出至电脑主机,利用电脑软件记录各节点信号,当遍历X1或XN轴向布线上各节点的信号均在电脑上显示,即判断Y轴向布线均连通,当任意节点的信号无法在电脑上显示或显示为多点信号,即判断该节点所在Y轴向布线不良;
以单边滑压Y轴向布线测试X轴向布线的连通性,其中先以手写笔滑压使Y1与X1~XN间的各节点压着接触,节点受压产生的信号输出至电脑主机,再以手写笔滑压使YM与X1~XN间的各节点压着接触,节点受压产生的信号也输出至电脑主机,利用电脑软件记录各节点信号,当遍历Y1或YM轴向布线上各节点的信号均在电脑上显示,即判断X轴向布线均连通,当任意节点的信号无法在电脑上显示或显示为多点信号,即判断该节点所在X轴向布线不良;
根据X轴向布线与Y轴向布线都连通,测得所述压电式触摸屏为合格品;若两者之一或两者均不良,判定所述压电式触摸屏为不合格品。
优选的,所述X轴向布线与Y轴向布线的测试顺序,为先以X轴向线性测试,再作Y轴向线性测试,或者先以Y轴向线性测试,再作X轴向线性测试。
本发明压电式触摸屏的线性测试方法的提出,只需要通过手写笔滑压触摸屏的四边的线路,即可得到触摸屏全线路可靠性的测试结果,从而大大缩短了测试所耗费的时间,进而从压电式触摸屏制造的测试方面提升了整体生产效率。
附图说明
图1是触摸屏的测试方法流程示意图;
图2是实施本发明测试方法的测试系统结构示意图。
具体实施方式
以下便结合实施例附图,对本发明的具体实施方式作进一步的详述,以使本发明技术方案更易于理解、掌握。
从常规的认识可知:压电式触摸屏是众多触摸屏种类中的一种,其包括上层具有N条X轴向布线X1~XN的ITO薄膜及下层具有M条Y轴向布线Y1~YM的ITO玻璃,两层布线垂直交错形成M×N个节点。使用情况下,用户触摸并按压表面,使其中某一个或多个节点接触连通,根据预编的导通规则识别用户的控制要求,执行相应的操控。
而参见附图1所示,对于半成品的触摸屏当要对其进行线性度测试时,先通过连接线4及USB等通用接口将待测触摸屏半成品2与电脑主机1相连。完成上述准备工作后便以X轴向或Y轴向分别进行布线线性测试(如图2所示),测试先后顺序不限,由相关作业技术人员随意选择。以下具体来看各边测试的详细步骤:
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