[发明专利]用于操作具有至少一个探针的测量装置的方法,该探针具有至少一个离子选择性电极有效

专利信息
申请号: 201110291597.6 申请日: 2011-09-26
公开(公告)号: CN102445476A 公开(公告)日: 2012-05-09
发明(设计)人: 斯特凡·维尔克;安杰·哈尔比格;丹尼尔·伊滕;冈特·雅尔 申请(专利权)人: 恩德莱斯和豪瑟尔测量及调节技术分析仪表两合公司
主分类号: G01N27/28 分类号: G01N27/28;G01N27/333;G01N27/49
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 张焕生;谢丽娜
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 用于 操作 具有 至少 一个 探针 测量 装置 方法 离子 选择性 电极
【权利要求书】:

1.一种用于操作具有至少一个探针(3)的测量装置(1)的方法,所述探针具有至少一个离子选择性电极(2),并且所述探针被配备用于输出取决于液体(20)中被测离子的浓度的测量信号,其中基于校准函数,所述测量装置(1)被配备用于表示来自于由所述探针(3)输出的所述测量信号的所述被测离子的浓度的测量值,

其中,所述方法包括如下步骤:

-提供所述液体的第一样品;

-利用标准加入法确定更新的校准函数,其中所述第一样品用标准溶液补充至少一次,所述标准溶液具有已知浓度的所述被测离子;

-基于所述更新的校准函数,确定所述第一样品中的所述被测离子的浓度的测量值,作为表观被测离子浓度(C表观);

-提供所述液体的第二样品,其中所述第二样品的组成与所述第一样品的组成对应;

-利用参考方法,确定所述第二样品中的所述被测离子的浓度的测量值,作为参考被测离子浓度(C参考);

-确定所述表观被测离子浓度(C表观)与所述参考被测离子浓度(C参考)之间的差(C干扰),并由此导出修正值(C修正),用于所述液体中所述被测离子的浓度的未来测量值,如利用所述测量装置(1)所确定的。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,在利用所述标准溶液对所述第一样品的每一次补充之后,记录表示经补充的第一样品中所述被测离子的浓度的探针测量信号(3)。

3.根据权利要求1或2所述的方法,其中利用所述标准加入法确定更新的校准函数可至少包括如下步骤:

-用第一预定量的所述标准溶液补充所述第一样品;

-记录探针测量信号(3),所述探针测量信号表示经补充的第一样品中的所述被测离子的浓度;

-可选择地,重新用额外预定量的所述标准溶液补充所述第一样品一次或多次,并记录探针测量信号(3),所述探针测量信号表示每个经重新补充的第一样品中所述被测离子的浓度;

-确定预定的校准函数的至少一个参数,尤其是确定校准线的至少零点。

4.根据权利要求1至3中的一项所述的方法,其中所述参考方法是光度计法或光谱法或化学分析法,所述化学分析法尤其包括滴定法或重量分析测定法。

5.根据权利要求1至4中的一项所述的方法,其中所述测量装置(1)用于监测在过程容器中——尤其是管或大桶中——收集的液体(20);以及,其中从所述过程容器中移出一定量的液体以提供所述第一样品和所述第二样品,其中所述第一样品和所述第二样品均取自所移出量的液体。

6.根据权利要求1至5中的一项所述的方法,其中将所述修正值(C修正)设定为等于所述表观被测离子浓度(C表观)与所述参考被测离子浓度(C参考)之间的差(C干扰)。

7.根据权利要求1至5中的一项所述的方法,其中将所述修正值(C修正)设定为小于所述表观被测离子浓度(C表观)与所述参考被测离子浓度(C参考)之间的差(C干扰)。

8.根据权利要求1至7中的一项所述的方法,其中所述测量装置(1)包括具有数据处理系统(6)的控制单元(4)、显示单元(7)和输入单元(8),所述显示单元尤其是用于显示在所述控制单元中处理的数据,所述输入单元(8)用于向所述控制单元输入命令;

其中,基于储存在所述数据处理系统的存储器中的计算机程序由所述数据处理系统(6)执行更新所述校准函数的步骤;以及其中,所更新的校准函数储存在所述数据处理系统(6)的存储器中,使得所述更新的校准函数可用以利用所述测量装置确定未来测量值。

9.根据权利要求1至8中的一项所述的方法,其中基于储存在所述数据处理系统的存储器中的计算机程序,通过所述数据处理系统(6)来确定所述表观被测离子浓度(C表观)与所述参考被测离子浓度(C)之间的差(C干扰),并经由所述显示单元(7)而输出。

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