[发明专利]电阻式触摸屏的检测方法及装置

权利要求书

1.一种电阻式触摸屏的检测方法，其特征在于，该检测方法包括：

步骤a1、基于未发生触摸时和发生两点触摸后的电压检测，计算得到Y平面相比于X平面的电阻变化量之比；其中，所述电阻变化量之比与所述Y平面相比于所述X平面的电压变化量之比成正比；

步骤a2、依据预先设置的两点连线的倾斜角度与所述电阻变化量之比的对应关系，计算得到所述倾斜角度。

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，

所述步骤a1所基于的所述电压检测是通过对所述X平面和所述Y平面分别施加电流激励、并检测所述X平面和所述Y平面连接电流源的一端电压来实现的；以及，所述步骤a1计算得到的所述电阻变化量之比等于所述Y平面相比于所述X平面的电压变化量之比；

或者，所述步骤a1所基于的所述电压检测是通过在所述X平面和所述Y平面的两端分别串联或者仅一端串联外接电阻并于串联后的两端施加电压激励、及检测所述X平面和所述Y平面的两端电压差值来实现的；以及，所述步骤a1计算得到的所述电阻变化量之比等于所述Y平面相比于所述X平面的电压变化量之比与预设比例因子的乘积。

3.根据权利要求1或2所述的检测方法，其特征在于，所述对应关系为kxytanθ=ΔRy/ΔRx;]]>

其中，k_xy为所述Y平面与所述X平面之间的比例系数，θ为以所述X平面所对应的X方向为基准的所述倾斜角度，ΔR_y为所述Y平面的电阻变化量，ΔR_x为所述X平面的电阻变化量。

4.一种电阻式触摸屏的检测方法，其特征在于，该检测方法包括：

步骤b1、基于未发生触摸时和发生两点触摸后的电压检测，计算得到Y平面相比于X平面的电阻变化量之比、以及所述X平面和所述Y平面中任一平面的电阻变化量相比于所述任一平面的总电阻的第一比值；其中，所述电阻变化量之比与所述Y平面相比于所述X平面的电压变化量之比成正比，所述第一比值与所述任一平面的电压变化量相比于所述任一平面在未发生触摸时的电压之比成正比；

步骤b2、基于发生两点触摸后的接触电阻检测，计算得到两点间的中点处的等效接触电阻相比于所述任一平面的总电阻的第二比值；其中，所述接触电阻检测依据的是接触电阻相比于所述任一平面的电阻分压比例、以及所述中点在所述任一平面内的坐标，所述第二比值等于所述电阻分压比例与所述中点对所述任一平面的总电阻的分割比例的乘积；

步骤b3、依据所述电阻变化量之比、所述第一比值、所述第二比值、以及两点距离之间的联立关系，计算得到所述两点距离；其中，所述联立关系是依据所述X平面和所述Y平面在发生两点触摸后的阻值关系、并基于两点连线的倾斜角度与所述电阻变化量之比的对应关系预先建立的。

5.根据权利要求4所述的检测方法，其特征在于，

所述步骤b1所基于的所述电压检测是通过对所述X平面和所述Y平面分别施加电流激励、并检测所述X平面和所述Y平面连接电流源的一端电压来实现的，以及，所述步骤b1计算得到的所述电阻变化量之比等于所述Y平面相比于所述X平面的电压变化量之比、所述第一比值等于所述任一平面的电压变化量相比于所述任一平面在未发生触摸时的电压之比；

或者，所述步骤b1所基于的所述电压检测是通过在所述X平面和所述Y平面的两端分别串联或者仅一端串联外接电阻并于串联后的两端施加电压激励、及检测所述X平面和所述Y平面的两端电压差值来实现的，以及，所述步骤b1计算得到的所述电阻变化量之比等于所述Y平面相比于所述X平面的电压变化量之比与预设第一比例因子的乘积、所述第一比值等于所述任一平面的电压变化量相比于所述任一平面在未发生触摸时的电压之比与预设第二比例因子的乘积。