[发明专利]触摸面板边缘持握触摸的检测方法和装置

说明书

技术领域

本发明涉及触摸面板技术，特别是涉及一种触摸面板边缘持握触摸的检测方法和装置。

背景技术

目前，通过手指之类触摸物体的触摸，直接对电子设备进行操作的技术已经普遍应用于日常工作和生活中。这些电子设备一般采用触摸面板来感应触摸动作并产生相应电信号以供后续操作。按照触摸感应原理的不同，触摸面板主要分为电阻式、电容式、光学式、电磁式、声波式等。其中电容式触摸面板的工作原理为：由使用者以手指或感应笔等可导电的物件触摸面板表面，导致触摸面板被触摸的位置产生电容变化，处理器侦测此电容变化以计算出触摸位置的坐标，以达到触摸操作的目的。

图1是现有技术电容式触摸面板的结构示意图。如图1所示，触摸面板10包括分布于第一方向的第一电极11、分布于第二方向的第二电极12。其中第一电极11和第二电极12之间相互电绝缘，且互相交叉分布，形成网格状电极图形，第一电极11和第二电极12由导线连接至处理器(图未示)。当触摸物体20靠近或接触触摸面板10时，会引起触摸面板10第一电极11和第二电极12之间的电容(互电容)变化，或第一电极11和第二电极12分别对地电容(自电容)的变化，处理器分别扫描第一电极11、第二电极12，比较触摸前及触摸后电容变化，确认横向、纵向坐标，从而确定触摸物体20的位置坐标，如图1，根据X、Y轴感应值可判断触摸物体20的位置坐标为(X2，Y3)。

当上述触摸面板10结合于触摸装置，如IPad，在操作过程中，经常发生用户因持握动作，手掌抓握到触摸面板10的边缘区域，而使得在触摸面板10的边缘区域发生边缘持握触摸22。该边缘持握触摸22产生的电容变化会影响触摸面板的正常操作，如图2所示，处理器根据X、Y轴电容的变化，不仅会判断出正常触摸点20的坐标(Xn，Yn)，同时也会检测出由于边缘持握触摸22引起的误触摸点(Xn，Yn-1)和(Xn，Yn+1)，从而引起触摸面板10的误操作。

因此，如何避免边缘持握触摸对触摸面板的正常操作产生影响，使得在有边缘持握触摸存在时也能正确判断出正常触摸点位置坐标，便成为一个需要解决的问题。

发明内容

有鉴于此，有必要提供一种触摸面板边缘持握触摸的检测方法及检测装置，可及时检测并动态更新边缘区域的状态和数据，从触摸面板的触摸信号中剔除边缘信号，得到正常触摸信号，减少边缘持握触摸对触摸面板正常操作产生影响。

一种触摸面板边缘持握触摸的检测方法，所述触摸面板包括边缘区域和操作区域，所述方法包括步骤：判断一边缘区域状态是否改变；当该边缘区域状态没有改变，则剔除一第一边缘信号；以及当该边缘区域状态改变，则更新该第一边缘信号为下一次的基准信号。

本发明还提供一种触摸面板边缘持握触摸的检测装置，所述触摸面板包括边缘区域和操作区域，所述检测装置包括：一第一判断单元，用于判断一边缘区域状态是否改变；一剔除单元，当该边缘区域状态没有改变，则剔除一第一边缘信号；以及存储单元，当该边缘区域状态改变，则更新该第一边缘信号为下一次的基准信号。

采用上述触摸面板边缘持握触摸的检测方法和装置，当触摸面板边缘区域发生边缘持握触摸时，能够及时检测并动态更新边缘区域的状态和数据，从触摸面板的触摸信号中剔除边缘信号，得到正常触摸信号，使得在有边缘持握触摸时也能正确判断出正常触摸点的位置，避免边缘持握触摸对触摸面板正常操作造成的影响，从而提高触摸面板操作的准确度。

附图说明

图1为现有技术电容式触摸面板结构示意图；

图2为图1所示的触摸面板上有边缘持握触摸的示意图；

图3为本发明实施例提供的触摸面板的结构示意图；

图4为本发明实施例提供的触摸面板边缘区域状态示意图；

图5至图8为本发明实施例提供的边缘区域状态转移示意图；

图9为本发明实施例提供的触摸面板边缘持握触摸的检测方法的一实施例流程图；

图10为有边缘持握触摸时对触摸板进行操作的示意图；

图11为剔除边缘信号后得到正常触摸信号的示意图；及

图12为本发明实施例提供的触摸面板边缘持握触摸的检测装置的结构示意图。

具体实施方式

下面结合具体实施方式及附图，对本发明作进一步详细说明。