[发明专利]测量装置和测量方法在审
申请号: | 201110267958.3 | 申请日: | 2011-09-09 |
公开(公告)号: | CN102419314A | 公开(公告)日: | 2012-04-18 |
发明(设计)人: | 鸟海洋一;川部英雄;桦泽宪一;铃木达也;今井宽和;上野正俊 | 申请(专利权)人: | 索尼公司 |
主分类号: | G01N21/47 | 分类号: | G01N21/47 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 余刚;吴孟秋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测量 装置 测量方法 | ||
1.一种测量装置,包括:
光传感元件,来自其上放置有测量目标的测量目标区域的光在所述光传感元件上形成图像;以及
多个发光元件,以环形设置在所述光传感元件周围,并向所述测量目标区域辐射光,
其中,所述多个发光元件被设置为相对于所述测量目标区域的法线倾斜,以使来自每个所述发光元件的辐射光的中心线穿过所述测量目标区域的中心。
2.根据权利要求1所述的测量装置,其中,根据所述测量目标区域和所述光传感元件之间的间距来设定由所述辐射光的中心线与所述测量目标区域的法线所形成的角度。
3.根据权利要求2所述的测量装置,其中,如果所述间距等于或小于预定阈值,则将所述角度设为45°,并且如果所述间距超过所述预定阈值,则将所述角度设为小于45°。
4.根据权利要求1所述的测量装置,其中,所述测量目标区域被设置为面向所述光传感元件。
5.根据权利要求1所述的测量装置,其中,4N个所述发光元件以(90/N)°的间隔设置在所述光传感元件周围,其中N是等于或大于1的整数。
6.根据权利要求1所述的测量装置,其中,提供给所述测量目标区域的所述辐射光的数值孔径等于或小于0.2。
7.根据权利要求1所述的测量装置,其中,所述多个发光元件辐射具有相同波长特性的光。
8.根据权利要求5所述的测量装置,其中,辐射具有N种不同波长的光的所述发光元件以每种波长四个所述发光元件的方式被设置作为所述多个发光元件。
9.根据权利要求8所述的测量装置,其中,辐射具有5种不同波长的光的20个所述发光元件以18°的间隔设置在所述光传感元件周围。
10.根据权利要求9所述的测量装置,其中,所述具有5种不同波长的光的中心波长分别为500nm、540nm、580nm、620nm和660nm。
11.根据权利要求10所述的测量装置,其中,中心波长为580nm的光的半峰全宽小于中心波长为500nm、540nm、620nm和660nm的光的半峰全宽。
12.根据权利要求8所述的测量装置,其中,辐射具有N种不同波长的光的所述发光元件以分时方式利用N个脉冲辐射光,以具有预定脉冲宽度。
13.根据权利要求7所述的测量装置,其中,所述多个发光元件分别地且同时地辐射白光以具有预定脉冲宽度。
14.根据权利要求7所述的测量装置,其中,所述光传感元件的光传感表面被分为N个区域,并且
其中,通过其传输具有N种不同波长的光的滤光器被设置在每个所述区域的上侧。
15.根据权利要求14所述的测量装置,其中,所述光传感元件的所述光传感表面被分为5个区域,并且
其中,通过所述滤光器传输中心波长为500nm、540nm、580nm、620nm和660nm的光。
16.根据权利要求15所述的测量装置,其中,中心波长为580nm的光的半峰全宽小于中心波长为500nm、540nm、620nm和660nm的光的半峰全宽。
17.根据权利要求15所述的测量装置,其中,来自所述测量目标区域的经准直的漫反射入射至所述滤光器。
18.根据权利要求1所述的测量装置,其中,所述测量目标区域的尺寸与由从所述多个发光元件辐射的光所形成的斑点的尺寸相同。
19.根据权利要求1所述的测量装置,其中,所述测量装置被设置在具有开口部的外壳内,并且
其中,所述测量目标区域是置于所述开口部上的人的皮肤表面。
20.一种测量方法,包括:
从多个发光元件辐射预定波长的光,所述多个发光元件以环形设置在光传感元件周围,并向测量目标区域辐射光,使得来自每个所述发光元件的辐射光的中心线穿过所述测量目标区域的中心,其中,来自其上放置有测量目标的所述测量目标区域的光在所述光传感元件上形成图像;以及
使所述光传感元件感测来自所述测量目标区域的漫反射光。
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