[发明专利]对磁共振设备中的检查对象的部分区域进行成像的方法有效
申请号: | 201110261945.5 | 申请日: | 2011-09-06 |
公开(公告)号: | CN102419426A | 公开(公告)日: | 2012-04-18 |
发明(设计)人: | J.O.布鲁姆哈根;M.芬彻尔;R.雷德贝克 | 申请(专利权)人: | 西门子公司 |
主分类号: | G01R33/56 | 分类号: | G01R33/56;G01R33/38;G01R33/385;A61B5/055 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 谢强 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 磁共振 设备 中的 检查 对象 部分 区域 进行 成像 方法 | ||
1.一种用于对磁共振设备中的检查对象的部分区域进行成像的方法,其中,所述部分区域(51)布置在磁共振设备(5)的视场的边缘,所述方法具有以下步骤:
-这样产生梯度场,使得在视场的边缘处的预定的位置处,通过梯度场的非线性产生的失真和通过B0场非均匀性产生的失真抵消,
-借助梯度场采集包含了在视场边缘处的预定位置的磁共振数据,并且
-从磁共振数据中确定在视场边缘处的预定位置处检查对象(U)的部分区域(51)的图像。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述梯度场的产生包括读出梯度场的产生。
3.根据权利要求1所述的方法,其中,所述梯度场的产生包括层选择梯度场的产生。
4.根据上述权利要求中任一项所述的方法,其中,所述梯度场的产生的步骤还包括:
-确定在视场边缘处的预定位置处的相对的梯度误差,
-确定在视场边缘处的预定位置处的B0场非均匀性,并且
-根据相对的梯度误差和B0场非均匀性,确定梯度场的梯度。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述梯度场的梯度G可以按照等式来确定
G=-dB0(x,y,z)/c(x,y,z) (1)
其中,dB0是在视场边缘处的预定位置(x,y,z)处的B0场非均匀性并且c是在视场边缘处的预定位置(x,y,z)处的相对的梯度误差。
6.根据上述权利要求中任一项所述的方法,其中,所述梯度场的产生的步骤还包括:
-确定在视场边缘处的预定位置处的B0场非均匀性,并且
-这样构造用于产生梯度场的梯度线圈(3),使得在视场边缘处的预定位置处,梯度场的非线性和B0场非均匀性抵消。
7.根据上述权利要求中任一项所述的方法,其中,所述梯度场的产生的步骤还包括:
-确定在视场边缘处的预定位置处梯度场的非线性,并且
-这样改变B0场,使得在视场边缘处的预定位置处,梯度场的非线性和B0场非均匀性抵消。
8.根据上述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,检查对象(U)的部分区域(51)包括患者的布置在磁共振设备(5)的视场边缘处的解剖结构。
9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,所述解剖结构包括患者的手臂。
10.根据上述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,所述磁共振设备(5)具有用于容纳检查对象(U)的通道形开口,其中,视场的边缘包括沿着通道形开口的内表面的外罩区域。
11.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,所述外罩区域具有近似为5cm的外罩厚度。
12.根据上述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,在关于检查对象(U)的横向层面中采集所述磁共振数据。
13.根据上述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,根据检查对象(U)的部分区域(51)的图像确定用于正电子发射断层造影的衰减校正。
14.一种磁共振设备,其中,所述磁共振设备(5)包括基本场磁铁(1)、梯度场系统(3)、高频天线(4)和控制装置(10),用于控制梯度场系统(3)和高频天线(4)、用于接收由高频天线(4)记录的测量信号、用于分析测量信号和用于建立磁共振图像,并且
其中,所述磁共振设备(5)构造为
-这样产生梯度场,使得在视场的边缘处的预定的位置处,梯度场的非线性和B0场非均匀性抵消,
-借助梯度场采集包含了在视场边缘处的预定位置的磁共振数据,并且
-从磁共振数据中确定在视场边缘处的预定位置处检查对象(U)的部分区域(51)的图像。
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