[发明专利]太阳能模组瑕疵检测的方法无效
申请号: | 201110261677.7 | 申请日: | 2011-09-05 |
公开(公告)号: | CN102983207A | 公开(公告)日: | 2013-03-20 |
发明(设计)人: | 林敬祐;徐秋田;洪育民 | 申请(专利权)人: | 惠特科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 北京泰吉知识产权代理有限公司 11355 | 代理人: | 张雅军;秦小耕 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 太阳能 模组 瑕疵 检测 方法 | ||
1.一种太阳能模组瑕疵检测的方法,用以对一个包括多个相互组接的太阳能板的太阳能模组进行检测,其特征在于,该方法包含下列步骤:
步骤一、对该太阳能模组供电,以使所述太阳能板分别发射出红外光;
步骤二、利用一个电连接一个计算单元的摄像机对所述太阳能板进行摄像,以输出一个原始影像至该计算单元;
步骤三、该计算单元对该原始影像进行一个第一处理程序,以计算出多个相对应所述太阳能板的个别影像区、多个相对应所述个别影像区的个别平均灰度值,及相对应所述个别平均灰度值的总平均灰度值;
步骤四、该计算单元于所述个别平均灰度值中选取出多个目标平均灰度值,并根据所述目标平均灰度值进行计算后,于所述个别影像区中选取出不符合标准的个别影像区,并将不符合标准的个别影像区选定为不良影像区;及
步骤五、该计算单元对不良影像区进行一个第二处理程序,以计算出不良影像区中的不良影像范围,并将不良影像范围显示于一个电连接该计算单元的显示荧幕。
2.根据权利要求1所述的太阳能模组瑕疵检测的方法,其特征在于,该步骤四包括下列步骤:
步骤四之一,该计算单元于所述个别平均灰度值中选取出多个相对接近该总平均灰度值的个别平均灰度值做为所述目标平均灰度值,所述目标平均灰度值的数量与全部个别平均灰度值的数量的比例不高于一个预设比例;
步骤四之二,该计算单元根据所述目标平均灰度值计算出一个目标总平均灰度值;及
步骤四之三,该计算单元根据每一个个别平均灰度值与该目标总平均灰度值及一个预设值进行比较,当该个别平均灰度值大于该目标总平均灰度值与该预设值的和,或低于该目标总平均灰度值与该预设值的差时,将相对应的个别影像区选定为不符合标准的该不良影像区。
3.根据权利要求2所述的太阳能模组瑕疵检测的方法,其特征在于,该第一处理程序包括下列步骤:
步骤三之一,该计算单元对该原始影像进行背景去除作业,以产生一个去背影像;
步骤三之二,该计算单元对该去背影像进行边缘检测作业,以产生多个相对应所述太阳能板的边缘的边缘线段;及
步骤三之三,该计算单元根据所述边缘线段计算出所述个别影像区。
4.根据权利要求3所述的太阳能模组瑕疵检测的方法,其特征在于,该第二处理程序包括下列步骤:
步骤五之一,该计算单元对每一个不良影像区进行滤波处理;
步骤五之二,该计算单元根据每一个滤波处理后的不良影像区的每一个像素的灰度值与该目标总平均灰度值及该预设值进行比较,当一个像素的灰度值大于该目标总平均灰度值与该预设值的和,或低于该目标总平均灰度值与该预设值的差时,将相对应的像素选定为不良像素;及
步骤五之三,该计算单元根据每一个不良像素与相邻的不良像素进行比对,并计算出结合成群聚的不良像素的边缘,将该边缘围绕的不良像素的范围定为该不良影像范围。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的