[发明专利]芯片音频模块测试系统和测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及音频测试技术，尤其涉及一种芯片音频模块测试系统和测试方法。

背景技术

芯片验证是保证芯片功能的必要环节，对于AUDIO(音频)模块中DAC模块(Digital-to-Analog Conversion，数模转换器)与ADC模块(Analog-to-Digital Conversion，模数转换器)的验证中，需要用到的仪器包括音频分析仪、信号发生器、PC等多种仪器设备，操作复杂，不可能对量产芯片进行每片的测试，由此能保证流进市场的每块芯片的AUDIO模块功能性能正常。

具体而言，现有DAC模块与ADC模块测试方法通常是将DAC模块与ADC模块分开两部分来测试：对DAC模块测试时，首先用DAC模块播放1k正弦波，然后接入音频分析仪中去分析输出的信号质量，得到信号的指标，与标准值比较合格与否；对ADC模块测试时，用信号发生器产生1KHZ的正弦波，然后将信号接入芯片的ADC模块，ADC采集数据后将数据传入电脑，利用相关的分析程序来对得到的数据进行分析，计算出信号质量指标，与标准比较合格与否。由于这种方法需要使用多种仪器设备，操作较为复杂，不可能对量产每片芯片进行测试，由此影响AUDIO模块品质。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种芯片音频模块测试系统和测试方法，实现芯片自动化测试，较好地保证芯片产品质量。

为解决以上技术问题，本发明提供的技术方案是，一种芯片音频模块测试系统，芯片包括中央处理单元、ADC模块及与DAC模块，ADC模块与DAC模块之间通过一外部电路连接，其中：DAC模块用于播放标准音频信号，得到DAC播放信号；ADC模块用于采集DAC播放信号，得到ADC采集数据；中央处理单元用于根据预设策略计算ADC采集数据的性能指标，并与相应标准值进行比较，分析芯片音频模块是否合格。

较优地，包括存储器，用于写入ADC采集数据，供中央处理单元进行处理。

较优地，存储器存储有预先制作的标准音频信号。

较优地，标准音频信号为正弦波信号。

较优地，正弦波信号的频率为1～3KHZ。

较优地，外部电路为耦合电路。

较优地，耦合电路包括一耦合电容。

在此基础上，本发明相应提供一种芯片音频模块测试方法，包括：

DAC模块播放标准音频信号，得到DAC播放信号；

ADC模块采集DAC播放信号，得到ADC采集数据；

中央处理单元根据预设策略计算ADC采集数据的性能指标，并与相应标准值进行比较，分析芯片音频模块是否合格。

较优地，预先存储正弦波信号作为标准音频信号。

较优地，采用频率为1～3KHZ正弦波信号作为标准音频信号。

与现有技术相比，本发明将ADC模块与DAC模块两种测试结合在一起，即利用DAC模块播放标准音频信号，然后由ADC模块将信号采集回来进行分析，由此判断芯片音频模块是否合格，可以实现每片芯片的测试。本发明利用芯片自身的模块，摆脱测试仪器的限制，较好地实现了对芯片的自动化测试。在芯片量产时加入这种测试，可有效提高出货芯片的质量。

附图说明

图1是本发明芯片音频模块测试系统的外部接线图；

图2是本发明芯片音频模块测试系统的原理框图；

图3是本发明芯片音频模块测试方法的流程图。

具体实施方式

本发明的核心思想是，利用DAC模块去播放标准音频信号，ADC模块将信号采集回来进行分析，由此判断芯片音频模块是否合格，较好地实现每片芯片的自动测试。

基于上述基本构思，本发明技术方案包括硬件和软件两部分，其中需考虑的细节问题包括：如何保征正常芯片DAC模块产生的信号干净；如何将DAC模块产生的信号再采集回来；如何对采样回来的信号进行分析；以及，如何缩短对采样回来的信号分析时所耗的时间。

具体而言，为解决这些问题，本发明较优实施例的整体技术方案分为以下几个步骤来完成：

1、首先制作正弦波数据，在制作过程要保征信号的质量和完整，提供给DAC模块播放。

2、编写芯片DAC模块与ADC模块的驱动程序，保证能使芯片正常播放出正弦波以及正常采集信号。

3、连接硬件，将信号接回芯片的ADC模块，使播出的正弦波信号能通过ADC模块采集回来，如图1所示外部接线图。